德普福的探针校准片支持各种芯片测试级探针校准。使用矢量网络分析仪测试时,探针配合校准片校准后,能够精准测试片上高频性能。德普福校准片提供SOLT,TRL等校准方法。还可以根据客户实际应用需求,支持定制!
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探针校准片 |德普福 (在产)
产品附件:
Probe ISS_101D100-250_datasheet_RevA.pdf
Probe ISS_101D250-500_datasheet_RevB.pdf
Probe ISS_10-01D100-150_datasheet_RevA.pdf
Probe ISS_10-01D150-250_datasheet_RevA.pdf
Probe ISS_101D250-1250_datasheet_RevA.pdf
Probe ISS_10-01D75-250_datasheet_RevA.pdf
Probe ISS_10101D150_datasheet_RevA.pdf
Probe ISS_1001D100_datasheet_RevA(1).pdf
德普福的探针校准片支持各种芯片测试级探针校准。使用矢量网络分析仪测试时,探针配合校准片校准后,能够精准测试片上高频性能。德普福校准片提供SOLT,TRL等校准方法。还可以根据客户实际应用需求,支持定制!
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