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联讯仪器上市拟募资19.54亿:2024年营收 7.88亿,仪器界黑马的六大核心数据解析

  • 分类:焦点推荐
  • 作者:Onetest
  • 来源:
  • 发布时间:2025-08-18 12:06
  • 访问量:46

2025年8月15日联讯仪器上交所科创板IPO已受理,拟募资19.54亿元。

中国仪器界公认的黑马联讯仪器,2017 年才成立。翻看早年对董事长胡海洋的采访,公司创立头两年还以系统集成为主,直到2019 年才正式聚焦光通信测试仪器、半导体测试仪器等核心产品研发。从战略转型到2024 年,不过短短 5 年,联讯已在多个细分市场掀起突围风暴:光通信测试仪器领域,拿下中国市场第三把交椅,前五里唯一本土企业;碳化硅功率器件晶圆级老化系统,登顶国内市场份额第一;功率芯片 KGD 分选测试系统,2023 - 2024 年稳居国内第三(本土企业第一);光电子器件测试设备市场,直接冲上国内份额第一的宝座。

一、核心财务数据全景:

本次上市拟募集资金19.54亿元,用于以下研究:

1
下一代光通信测试设备研发及产业化建设项目
5.13
5.13
2
车规芯片测试设备研发及产业化建设项目
1.99
1.99
3
存储测试设备研发及产业化建设项目
3.85
3.85
4
数字测试仪器研发及产业化建设项目
3.04
3.04
5
研发中心及制造中心建设项目(一期)
4.03
4.03

1、员工总人数934人(2025年3月底)

2、2024年营收7.886亿元,净利润1.32亿元

3、2025第一季度营收1.997亿元,毛利率65%

4、2023年营收2.692亿元,毛利率61.2%


5、2022年营收2.122亿元,毛利率44%

二、核心产品全景和市占率

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Keysight、Anritsu 等为代表的海外企业占据了2024年中国光通信测试仪器市场约84%的份额,行业集中度较高,本土企业市场份额占比约16%。

联讯仪器作为国内头部企业,贡献了中国光通信测试仪器市场 9.9%的市场份额,位列市场第三,也是前五中唯一的本土企业。

1、光通信测试仪器,2024年在中国光通信测试仪器市场 份额排名第三

目前全球少数、国内极少数量产供货400G、800G高速光模块核心测试仪器的厂商

面向 400G、800G高速光模块测试需求的50GHz采样示波器、56GBaud时钟恢复单元、800Gbps 误码分析仪等核心产品报告期内已实现大规模量产供货

公司已推出满足目前业内最高 水平1.6T光模块测试需求的65GHz采样示波器、120GBaud时钟恢复单元、1.6Tbps误码 分析仪,三款产品均在业内顶级用户处送样验证,是全球第二家推出1.6T光模块全部核心测试仪器的厂商;根据Frost&Sullivan数据,2024年公司在中国光通信测试仪器市场 份额排名第三,也是前五中唯一的本土企业

2、光通信芯片测试,,2024年中国碳化硅功率器件晶圆级老化系统市场份额排名第一;2023-2024年中国功率芯片KGD分选测试系统市场份额排名第三、本土企业第一

面向光通信领域 用户提供CoC光芯片老化测试系统、光芯片KGD分选测试系统、硅光晶圆测试系统等光 电子器件测试设备,全面覆盖封装级光芯片、裸Die级光芯片、晶圆级硅光芯片等光通信产业链上游核心环节测试需求,硅光晶圆测试系统于2024年度实现收入;

根据 Frost&Sullivan数据,2024年公司在中国光电子器件测试设备市场份额中排名第一。

3、功率器件测试,2024年在中国光电子器件测试设备市场份额中排名第一。

主 要面向车规级应用场景的功率器件测试设备产品线,两款核心产品晶圆级老化系统、功 率芯片KGD分选测试系统均已实现产业化应用。

4、半导体集成电路测试,,是国内少数具备精密源表等核心测试部件自主能力的厂商

核心产品精密源表最小电流分辨率已突破至1fA,与国际最高水平的差 距持续缩小,且公司是国内极少数可以提供PXIe插卡式源表、低漏电开关矩阵、高压源 表、脉冲源等多产品矩阵的厂商。聚焦核心技术复用价值,积极布局电性能测试设 备产品线,主要产品包括WAT测试机、晶圆级可靠性测试系统等,是国内少数具备精 密源表等核心测试部件自主能力的厂商。



三、核心竞争对手数据

电子测量仪器
通信测试仪器
采样示波器、时钟恢复单元、误码分析仪等
Keysight、Tektronix、Anritsu、EXFO、HighFinesse
电子测量仪器
电性能测试仪器
精密源表、低漏电开关矩阵
Tektronix、NI、Keysight
半导体测试设备
光电子器件测试设备
CoC 光芯片老化与测试系统、光芯片 KGD 分选测试系统、硅光晶圆测试系统等
致茂电子、Alphax、圣昊光电、镭神技术、FormFactor、旺矽科技
半导体测试设备
功率器件测试设备
晶圆级老化系统、功率芯片 KGD 分选测试系统等
SPEA、Pentamaster、Aehr
半导体测试设备
电性能测试设备
WAT 测试机和晶圆级可靠性测试设备
Keysight、QualiTau、广立微


四、产品核心竞争力数据

1、测试仪器

采样示波器
通道带宽
测试的光信号频率范围,数值越高,性能越高
DCA1065
65GHz
Keysight N1032
120GHz
时钟恢复单元
最高恢复速率
可恢复的输入信号最高波特率,数值越高,性能越高
CR3302
120GBaud
Keysight N1093B
120GBaud
误码分析仪
单通道最高传输速率
单通道能够支持的最高波特率,数值越高,性能越高
PBT3058
113.44GBaud
Keysight M8050A
120GBaud
突发误码分析仪
单通道最高突发速率
单通道能够支持的最高波特率,数值越高,性能越高
rBT3250
51.56GBaud
Anritsu MP1900A
64GBaud
快速波长计
波长测量精度
光波长测量结果与实际波长值之间的最大偏差,数值越低,性能越高
FWM8612
0.5pm
HighFinesse WS8-10
8MHz(≈0.064pm)¹
精密源表
最小电流分辨率
最小量程下可识别的最小电流变化量,数值越低,性能越高
S2036H
1fA
Tektronix 6430
10aA²
精密源表
最小电压分辨率
最小量程下可识别的最小电压变化量,数值越低,性能越高
S2036H
100nV
Tektronix 2450
10nV
低漏电开关矩阵
失调电流
两个差分输入端偏置电流的误差,数值越低,性能越高
RM1010-LLC
100fA
Keysight B2200A
10fA


2、半导体测试设备

光芯片 KGD 分选测试
UPH
单位小时测试的裸芯片数量,数值越高,性能越高
CT8302
655
Alphax,LD2900 系列
无公开信息
光电子器件测试系统
电流脉冲宽度
电流脉冲信号上升沿到下降沿的时间间隔,数值越低,性能越高
CT8302
1μs
Alphax,LD2900 系列
无公开信息
光电子器件测试系统
AOI 检测功能
基于机器视觉 + AI 的光学检测,识别 DUT 外观缺陷
CT8302
支持
Alphax,LD2900 系列
无公开信息
CoC 光芯片老化系统
系统并行测试数量
同时测试 DUT 的最大数量,数值越高,性能越高
BI6203
4.224
镭神技术(EML/DML CoC 老化机)、致茂电子(58604-HD)
5.120、2.688
CoC 光芯片老化系统
温度一致性
DUT 的温度一致性,数值越低,性能越高
BI6203
±3℃
镭神技术(≈±2℃)、致茂电子(±3℃)
≈±2℃、±3℃
硅光晶圆测试系统
光耦合重复性
多次耦合峰值的极差,数值越低,性能越高
sCT9002
<0.2dB
FormFactor(CM300xi-SIPn)、旺矽科技(TS3000 系列)
<0.2dB、无公开信息
硅光晶圆测试系统
光耦合速度
达到全局最大值的时间,数值越低,性能越高
sCT9002
<1.5s
FormFactor(CM300xi-SIPn)、旺矽科技(TS3000 系列)
<1s、<1s
晶圆级老化系统
单位工序并行测试数量
单个老化层同时测试 DUT 的最大数量,数值越高,性能越高
WLB13810
2.560
Aehr(Fox-XP)
2.048
晶圆级老化系统
工位数
老化单层数量,数值越高,性能越高
WLB1370A
20
Aehr(Fox-XP)
18
功率芯片 KGD 分选测试系统
UPH
单位小时测试的裸芯片数量,数值越高,性能越高
PB6800
>4,000
SPEA(KGD Test Cells)、Pentamaster(PM52X-KGD)
无公开信息
功率芯片 KGD 分选测试系统
最大工位数
系统支持的工位数量,数值越高,性能越高
PB6800
6
SPEA(KGD Test Cells)、Pentamaster(PM52X-KGD)
4
WAT 测试机
并行测试数量
同步激励与测量的通道数,数值越高,性能越高
WAT6600
48
广立微(T4100S)、Keysight(P9002A)
48、100
WAT 测试机
最小电流分辨率
最小量程可识别的最小电流变化量,数值越低,性能越高
WAT6600
1fA
广立微(10fA/0.1fA)、Keysight(0.1fA)
10fA/0.1fA、0.1fA
WAT 测试机
最小电压分辨率
最小量程可识别的最小电压变化量,数值越低,性能越高
WAT6600
100nV
广立微(100nV)、Keysight(2μV)
100nV、2μV
晶圆级可靠性测试系统
系统并行测试数量
同时测试 DUT 的最大数量,数值越高,性能越高
PLR0010
480
QualiTau(Infinity)
384
晶圆级可靠性测试系统
系统测试温度
支持的最高测试温度,数值越高,性能越高
PLR0010
250℃
QualiTau(Infinity)
350℃


五、客户核心数据

电子测量仪器包括通信测试仪器和电性能测试仪器,通信测试仪器主要面向光 通信测试;电性能测试仪器广泛应用于通信和半导体等领域的高精度电学测试。

半导体测试设备包括主要面向光通信测试的光电子器件测试设备,主要面向功率器件测试 的功率器件测试设备,以及主要面向半导体集成电路测试的电性能测试设备。 光通信测试领域,已覆盖集团一、中际旭创、新易盛、光迅科技、海信集团、 华工正源、赛丽科技、Coherent、Broadcom、环球广电、日本住友、日本古河等国内外 主流光通信产业链客户。

功率器件测试领域,已覆盖比亚迪半导体、芯联集成、士 兰微、三安光电、芯聚能、长飞先进、株洲中车、瞻芯电子、ONSEMI、Power Master 等国内外主流功率芯片厂商。

半导体集成电路测试领域,代表性客户包括客户二、 集团一、比亚迪半导体、燕东微、士兰微、X-FAB 等国内外知名企业。上述行业知名 用户助力公司各行业领域前沿技术突破,引领公司创新发展。

六、产品价格和核心数据

业务收入以采样示波器、时钟恢复单元、误码分析仪、CoC光芯片老化系统、光芯片KGD分选测试系统、晶圆级老化系统、功率芯片KGD分选测试系统等细分产品为主。

单位:万元/台、万元/层

采样示波器
35.12
24.84
18.94
11.56
时钟恢复单元
9.27
10.81
16.33
10.27
误码分析仪
6.44
7.14
6.83
8.04
CoC 光芯片老化系统
9.49
9.06
14.18
10.76
光芯片 KGD 分选测试系统
105.89
238.77
138.05
120.44
晶圆级老化系统
281.82
130.44
150.56
-
功率芯片 KGD 分选测试系统
458.19
408.05
358.36
-


结语:国产测试仪器的高端突围的绝对黑马

联讯仪器在高端测试设备领域一步步突破:光通信测试仪器冲进市场前五,还是其中唯一本土企业;1.6T 光模块测试仪器,也成全球第二家能做全套的厂商 。

这次科创板募资,要投向下一代光通信、车规芯片测试设备这些新项目。对它而言,既是把现有技术往更深处挖、往高端推,也想借着精密源表这些核心部件,把电性能测试设备的版图拓得更宽,在半导体测试领域站得更稳。

招股说明书全文链接:https://static.sse.com.cn/stock/disclosure/announcement/c/202508/002075_20250815_QAVG.pdf






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