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射频芯片测试机、测试仪、测试系统、测试平台
晶圆级芯片（CP）、前端模组（FEM）、系统级芯片（SoC）和系统级（SLT）产品测试
收录超过 2个射频芯片测试机、测试仪、测试系统、测试平台产品、超过 1个厂家
强大射频测试能力的芯片测试机，支持复杂的射频功能芯片的晶圆级、封装级和系统级测试。高通量配置使其可以很好地适应量产环境的要求。
支持多类型、多站点测试的桌面式芯片测试机，采用6U标准机箱结构，可用于晶圆级芯片（CP）、前端模组（FEM）、系统级芯片（SoC）和系统级（SLT）产品的快速技术验证和小批量测试。
