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适用于芯片、器件、模块/组件在——55℃~+125℃高低温环境内循环预温和自动测试;
专利技术高低温视觉系统,高低温环境下实时对器件进行识别、定位、OCR识别等;
测试挑选过程无需开门,无温度波动、结霜等问题;
自动进行高低温测试切换,无须人工干预;
双工作头交替取放料,提升测试效率。
频率覆盖6 GHz/14 GHz/20 GHz可选
功率与增益测试:Gain/Pou t/E f f等
OS和DC测试:直流电压与电流
支持UOSM/TOSM/TRL校准
S参数测试:高速测量与负载校正选件
频域测试:PAR/A CPR/平坦度等
矢量信号发生:连续波/宽带矢量信号
±20 0 V、±1 A直流测试能力
适用于多种规格的器件在老化板夹具上的自动装夹和取料;
支持阻容感、SMA、SO、SOT、SOP、SSOP、QFP、QFN、DFN、Fp等封装器件;
支持翻盖式、压簧式、直插式等类型夹具;
支持散料或Tray盘料仓等多种上料方式,通过老化板周转车进行老化板上下料;
具备老化板信息管理和器件计数、追溯等信息管理功能。
专为RFFEM测试设计的旗舰机,覆盖所有射频前端测试需求,性能经过市场考验,拥有行业领先的测试速度和测试能力。
测试产品:射频前端芯片/射频前端模组
测试模式:1-site测试/2-site串测
RF端口数:最多64个RF端口
频率范围:最高9GHz
最大实时带宽:1GHz,2GHz(Optional)
谐波频率范围:最高25.5GHz
通讯协议:SECS/GEM
适用于6″/8″/12″晶圆、划片后在蓝膜上芯片、单芯片的自动化探针测试;
可应用于I-V/C-V、1/f噪声、射频/毫米波、功率、Load-Pull等测试;
支持MPW晶圆测试,可在一个Map中定义完整的MPW晶圆;
多探针自动校准扎针,定位精度高;
可拓展性设计,支持高温探针测试(选配)。
专为滤波器和多工器测试优化了测试架构,降低了链路复杂度,拥有超快的测试速度和超高的性价比。
测试产品:滤波器/多工器
测试模式:3-site滤波器并测/2-site双工器并测/1-site四工器测试
RF端口数:6个
频率范围:9kHz~20GHz
报告生成:自动生成报告,支持多site测试报告整合
通讯协议: SECS/GEM
专为DiFEM射频模组测试研发的测试机台,大大提升了测试速度,可以有效应对自动化测试中DiFEM的各种测试对象和测试要求。
测试产品:DiFEM模组
测试模式:1-site测试
RF 端口数:18个
频率范围:10MHz~9GHz
中频带宽:1Hz-1MHz
最大支持点数:100001
专为毫米波芯片/模组测试研发的测试机台,支持前端链路自定义,具有超强的通用性和拓展性,保证高效产线测试。
测试产品:毫米波通讯芯片/频综组件/毫米波TR芯片/毫米波TR组件
RF端口数:支持定制端口数
频率范围:最高26.5GHz
信号输入/输出:43dBm/13dBm
高低温测试:支持程控温箱做高低温测试
频率范围:最高40GHz
最大输出功率:5dBm
专为滤波器测试优化了测试架构,降低了链路复杂度,拥有超快的测试速度和超高的性价比。
测试产品:滤波器
测试模式:1-site/2-site/3-site/4-site异步并测
RF端口数:2/4/8个
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