在EMC认证测试之前检测 EMC的问题,避免再次检测,节省时间和金钱。
通过重复和一致性的测量,非常容易比较不同的设计备选方案。
通过消除内部EMI热点,提高设计质量。
功能强大且易于使用的软件可以对任何频率的电磁干扰信号发射或者抗扰度热点进行出色的可视化显示。
多维 2D、3D 或 4D 扫描(3D 加近场探头尖端旋转),提供有关 EMI 噪声源的有价值信息。
以低至 25um 的步长进行扫描,可以对 IC 内部噪声进行测量。
支持市场上100多种不同型号的频谱分析仪,我们也会不断为新型号频谱分析仪创建新的驱动程序。