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半导体测试/分选系统
晶圆级、裸片级、器件级测试、分选等系统/平台
收录超过 24个半导体测试/分选系统产品、超过 2个厂家
适用于各种微小型电子元器件、结构件、模切件、塑胶件、焊锡片等零散物料;
可实现自动无损分选、排贴、植盘、装盒作业等;
具备柔性分料、高精度视觉识别/测量/定位、自动校正等功能;
选配编带模组可实现快速扩展为散料编带机。
可进行多种规格的阻/容/感被动元器件或塑封芯片器件的超声波无损探伤扫描影像;
可进行缺陷自动识别、分析,并对存在缺陷的产品按缺陷等级进行自动标识、挑选;
可扩展为对良品器件进行摆盘、装盒、贴蓝膜或编带等作业。
适用于多种规格的器件在老化板夹具上的自动装夹和取料;
支持阻容感、SMA、SO、SOT、SOP、SSOP、QFP、QFN、DFN、Fp等封装器件;
支持翻盖式、压簧式、直插式等类型夹具;
支持散料或Tray盘料仓等多种上料方式,通过老化板周转车进行老化板上下料;
具备老化板信息管理和器件计数、追溯等信息管理功能。
可针对多种规格的支架电容、支架电阻等产品,实现单芯组件、两芯组件、三芯组件的自动化组装;
可将产品引线支架、焊料片、助焊剂、芯组以及隔片(聚四氟乙烯软片)进行全自动装配;
可对组装后的装配体自动放置于固定夹具内自动完成整形和夹紧,视觉检查再接驳或送入回流炉设备进行焊接。
适用于批量芯片、器件类产品的自动化测试、筛选分拣;
独立工作站式设计,配备自动化料仓实现自动上下料,适用于批量化应用;
具备智能视觉系统,能对不规则放置物料进行自动定位、识别、校正;
测试头内建气室和压力监测,缓冲下压冲击,避免物料损伤;
成本低、体积小、速度快、不间断时间长、维护方便;
可扩展为自动摆盘、排序、分类等应用,以及多工位组成流水线应用。
适用于多种规格的片式陶瓷电容器容值CP、损耗DF参数的自动化测试、分级及分档作业;
配备振动上料器、托盘传输系统、双针卡测试工作头、开关矩阵切换系统以及气动分选系统。
适用于多种规格的片式陶瓷电容的绝缘IR、耐压HV参数的正向、正反向自动化测试、分级及分档作业;
应用于芯片、器件、模块/组件在-55°C~+125°C高低温环境下自动化测试、分选;
设备配备高低温试验箱(分别提供高温和低温试验环境)、高低温运动平台、料盘周转系统、高低温视觉系统和自动测试软件;
可实现自动上下料和在高温和低温环境下并行测试,保证产品测试的可靠性和连续性;
自动进行高低温测试切换,无须人工干预。
应用于芯片、器件、模块/组件在-55℃~+125℃高低温环境内的自动化测试、分选;
实现高低温实验箱内循环预温、自动取放料、自动测试、自动分选、数据分析等功能,保证产品测试的可靠性和连续性。
专利高低温视觉系统,高低温环境下实时对器件进行识别、定位、OCR识别等;
智能的高低温运动控制算法,支持Socket快换;
快速温变率≥5℃/min(可选配温变率更高或更低的温箱)。
适用于芯片、器件、模块/组件在——55℃~+125℃高低温环境内循环预温和自动测试;
专利技术高低温视觉系统,高低温环境下实时对器件进行识别、定位、OCR识别等;
测试挑选过程无需开门,无温度波动、结霜等问题;
自动进行高低温测试切换,无须人工干预;
双工作头交替取放料,提升测试效率。