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在SW半自动晶圆探针台基础上增加晶圆料仓,以实现晶圆片的批量自动化探针测试;
可应用于I-V/C-V、射频/毫米波测试、功率测试等;
支持手动、半自动、全自动多种操作模式;
精密光学系统配合Auto XY、Auto Z软件功能,实现探针自动对位;
可拓展性设计,支持高温探针测试(选配)。
3180是一款运用Pick&Place技术的量产型机台,适合高产出多测试站点的IC测试。
Chroma 单站测试分类机 3210 支持 BGA 系列、μBGA、QFP 系列、QFN、Flip-Chip、TSOP 等多种封装形式。
适用于裸片、载片、堆叠芯片等单片类产品的批量自动探针测试,同时也可应用于QFN、BGA等表贴封装器件批量自动探针测试;
具备单片自动上下料功能,支持膜盒、华夫盒、扩晶环等多种来料选配项;
Pad三维精确测量、探针智能补偿对位、Softtouch软接触保证扎针的准确性和稳定性;
双Chuck盘并行测试,提升测试效率;
无人值守自动测试分选,降低使用成本。
Chroma 3110-FT为一台适用于IC终端测试(Final Test)工程产品特性及测试开发用途之测试分类设备。
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