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20GHz带宽内插损线性度好,无明显谐振点,回损小于-10dB;
最小长度0.5inch,最大长度14.3inch,0.5inch至14inch之间使用0.5inch设计间隔,共29对差分对;
微带传输线设计,85+/-8.5欧姆阻抗,支持PCIe 4.0 16Gbps速率电气性能测试;
SMP接口,方便和CBB,CLB互连;
差分对内布线偏差小于+/-1mil;
4inch以上长度差分对采用倾斜布线,减小了玻纤编织布效应;
提供S参数文件供仿真、去嵌入、加嵌入使用;
支持USB 2.0 480Mbps速率;
D+&D-信号设计有并联450欧姆电阻,配合50欧姆示波器内阻可实现45欧姆阻抗匹配;
VBUS测试点;
USB 3.1 USB (10 GT/s) Type-C 电气测试夹具组为 PHY 提供了最坏的情况,即 ISI 硬件通道。它旨在帮助公司测试主机或外围设备的发射器信号质量和接收器灵敏度。
1、提供低成本、高性能测试板及夹具。包括SFP+、SFP28、QSFP+、QSFP28、MiniSAS、MiniSAS HD、TypeC、USB3.0、SATA、HDMI、DVI、DP等测试夹具。出厂前经过测试校验,性能符合标准规范或客户指标要求。
2、提供端到端高频测试解决方案服务。
3、Minisas测试夹具符合标准协议规范:SAS3.0。
SI性能优化至30GHz,符合SFPDD MSA协议,CEI-56G-VSR协议;
高性能2.92mm K型连接器,可兼容2.92mm,3.5mm和SMA测试线缆;
罗杰斯RO4003C板材,极低的插入损耗;
尺寸:120x110mm,1.6mm板厚,设计简约,坚固耐用;
TI电源芯片,ST微处理器,稳定可靠,简单易用的GUI界面方便寄存器读写;
单5V电源供电,方便适配;
板载拨码开关可控制模块工作状态;
板载LED指示灯可指示电源、信号及固件的健康状况;
USB控制接口方便连接电脑使用GUI软件;
预留I2C接口方便使用客户自己的控制板访问光模块或电缆;
The Standard SD Express 存储卡测试适配器支持针对 SD8.0 和 SD7.1 的 PCIe® 16 GT/s (Gen4) 和 PCIe® 8 GT/s (Gen3) 接口合规性程序测试。串扰最小,走线长度短。 Micro SD Express 存储卡测试适配器支持针对 SD7.1 的 PCIe® 8 GT/s (Gen3) 接口合规性程序测试。串扰最小,走线长度短。它们都支持 SDHC、SDXC 和 SDUC 操作模式,通过实验室标准 SSMP 测试电缆和硬金配合表面收集数据,可实现高循环计数插入和可靠性能。
SI性能优化至30GHz,符合SFP28MSA协议,CEI-28G-VSR协议;
尺寸:100x100mm,1.6mm板厚,设计简约,坚固耐用;
双通道设计,可同时测试2个光模块,尤其是方便光缆或电缆的测试,可同时连接光缆或电缆的两端分别到测试板的两个接口来进行测试;
TI电源芯片,稳定可靠;
单5V电源供电,方便适配;
板载LED指示灯可指示电源、信号状态;
所有IO均引至连接器,方便使用杜邦线连接测试
使用海凌克专用控制板搭配GUI软件可实现对光模块或光缆、电缆的寄存器读写访问;
支持PCIe 8Gbps/5Gbps/2.5Gbps速率;
Tx,Rx,时钟以及CMTS信号均使用SMP接口;
x4和x8接口各自独立;
高速信号微带线设计,阻抗85+/-8.5欧姆;
Tx和Rx信号分别等长设计,Tx 2000mil,Rx 4000mil;
板载CMTS产生电路,用于测试码型切换;
SFP+/SFP28测试夹具
使用拨码开关控制“初始化模式”和“测试模式”选择并设计有相应LED指示灯;
设计有500mA自恢复保险用于DUT过流保护;
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