基本 RAIN RFID 频率范围从 800 MHz 到 1 GHz

扩展的 RAIN RFID 频率范围从 700 MHz 到 1.3 GHz

标签和阅读器性能测试

标签和阅读器一致性测试

Sniffer 模式，用于分析读取器与标签之间的通信

ETSI EN 302 208 阅读器和标签测试（RED 合规性/CE 标志）

高精度 RFID 测试仪

快速且易于使用

一台设备 – 多种标签和阅读器测试模式

用于用户自定义测试序列的 GUI 和 API 功能

支持 EPCglobal、ISO/IEC、IATA、VDA 和所有巴西 RFID 测试标准

UTC-274 是一款用于生产线和研发环境中测试 USB-C 产品的自动化测试工具。 UTC-274 具有多功能和可靠的方式来测试 USB-C 接口的连接器引脚。 UTC-274 附带一个软件开发套件（SDK），其中包含一组自动测试脚本示例，同时支持 Python 脚本编写。

• 支持 4K@60Hz 及 8K@30Hz 影像分析 (4:2:0)

• DisplayPort Alternate Mode

• Power Delivery 3.1

•USB 2.0 和 USB 3.2

•USB4 mode 检查

•EPR 测试功能

Keolabs EMV测试设备，支持EMV L1非接卡和非接终端的射频和协议层测试，满足新的EMVCo规范要求，获得EMVCo组织授权许可，是业内首选的EMV测试设备。

EMV测试设备：EMV L1非接触式智能卡和读卡器测试套件

模拟非接触式读卡器测试非接触式智能卡

EMV L1 PICC Analog

EMV L1 PICC Digital

ISO 14443 PICC Analog

ISO 14443 PICC Digital

NFC Forum Analog (Listen Mode)

NFC Forum Digital

模拟非接触式智能卡测试非接触式读卡器

EMV L1 PCD Analog

EMV L1 PCD Digital

ISO 14443 PCD Analog 

ISO 14443 PCD Digital

NFC Forum Analog (Poll Mode)

NFC Forum Digital

NFC手机近场通信测试套件

模拟非接触式读卡器测试非接触式智能卡

EMV L1 PICC Analog

EMV L1 PICC Digital

ISO 14443 PICC Analog (ISO10373-6)

ISO 14443 PICC Digital (ISO10373-6)

NFC Forum Analog (Listen Mode)

NFC Forum Digital

模拟非接触式智能卡测试非接触式读卡器

EMV L1 PCD Analog

EMV L1 PCD Digital

ISO 14443 PCD Analog (ISO10373-6)

ISO 14443 PCD Digital (ISO10373-6)

NFC Forum Analog (Poll Mode)

NFC Forum Digital

NomadLAB是一台便携式NFC抓包分析工具，是一台多功能集成合一的接触式和非接触式协议分析仪，可以支持接触式智能卡和接触式读卡器相关的application level抓包和解析，包括ISO 7816 T=0/1, SWP/HCI, ISO14443, NFC等协议解析。NomadLAB还可以模拟接触式智能卡测接触式读卡器，模拟非接卡测非接读卡器。支持EMV Level 2层面（Paypass, Paywave, Discover等等）的终端测试。

ontactLAB 创新且准确，提供卡/读卡器更换的详细分析。此外，只需单击一下即可获得 ISO 7816 和 SWP 智能卡协议（包括 EMV、GSM、HDLC 和 HCI）的用户友好解释。还可以跟踪智能卡的 USB 接口。

NFC协议分析仪ProxiSPY Quest

支持NFC抓包和协议解析：

支持ISO/IEC 14443 (A/B/B'), Mifare™, ISO/IEC 15693, Felica™ (JISX 6319)

支持NFC -IP1, -IP2 (ISO/IEC 18092, ECMA 340), NFC Forum, EMVCo

支持VHBR (ASK up to 6.8Mbps, PSK up to 27 Mbs)

支持模拟波形抓包解析和展示Analog View

支持场强实时测试测量

支持PICC, PCD Performance Tests信号处理时间测试测量

支持API二次开发

接触式智能卡协议分析仪ContactLAB支持：

模拟接触式读卡器测试接触式智能卡ISO 7816 T=0, T=1, EMV L1 Electrical & Protocol

模拟接触式智能卡测试接触式读卡器ISO 7816 T=0, T=1, EMV L1 Electrical & Protocol

模拟接触式读卡器测试接触式智能卡SWP/HCI UICC

模拟接触式智能卡测试接触式读卡器SWP/HCI UICC

作为第三方设备抓取接触式读卡器和智能卡之间交互的信息ISO 7816 T=0, T=1

作为第三方设备抓取接触式读卡器和智能卡之间交互的信息SWP/HCI 

• 兼容所有三种 USB 2.0 速度

• 自动检测被测链路速度

• 测量 USB 总线状态和低级协议

• 非常实惠的许可，为每个开发商提供一个单元

• 非侵入式分析

• 强大的硬件触发器

• 类请求和描述符的高级解码（大容量存储等）

• 分析任何速度的 USB 1.1 和 USB 2.0 链路，包括 OTG 和 所有速度和所有电压的新型 InterChip-USB;

• 模拟 USB 主机和设备;

• 为压力和错误恢复测试注入预定义的错误模式; 和

• 自动验证是否符合 USB 和类规范。