客服
适用于6″/8″/12″晶圆、划片后在蓝膜上芯片、单芯片的自动化探针测试；
可应用于I-V/C-V、1/f噪声、射频/毫米波、功率、Load-Pull等测试；
支持MPW晶圆测试，可在一个Map中定义完整的MPW晶圆；
多探针自动校准扎针，定位精度高；
可拓展性设计，支持高温探针测试（选配）。
ONETEST 欢迎您
厂商登录 | 入驻
登录 | 注册 购物车 微信公众号厂商登录
同厂商产品
适用于6″/8″/12″晶圆、划片后在蓝膜上芯片、单芯片的自动化探针测试；可应用于I-V/C-V、1/f噪声、射频/毫米波、功率、Load-Pull等测试；支持MPW晶圆测试，可在一个Map中定义完整的MPW晶圆；多探针自动校准扎针，定位精度高；可拓展性设计，支持高温探针测试（选配）。
半自动6″/8″/12″晶圆探针台|云绎智创 (在产)
参考价格 ：
产品描述
详细指标
软件和手册|白皮书
购买渠道
选件
问大家
视频
测评
口碑
系统与解决方案
适用于6″/8″/12″晶圆、划片后在蓝膜上芯片、单芯片的自动化探针测试；
可应用于I-V/C-V、1/f噪声、射频/毫米波、功率、Load-Pull等测试；
支持MPW晶圆测试，可在一个Map中定义完整的MPW晶圆；
多探针自动校准扎针，定位精度高；
可拓展性设计，支持高温探针测试（选配）。
全部
厂家联系方式：
手机：15908198086
电话：028-86045989
邮箱 ：info@aatsr.cn
0条提问
X
提问
X
回答
暂无视频
0条口碑
X
发表口碑
粤公网安备44030902003758