ONETEST 欢迎您

登录|注册 购物车 微信公众号
仪器资源库
搜索
二维码

类似产品

功能测试使用标准协议检查基本 NFC 功能通过减少信令对所有关键 NFC 标准进行功能验证RF 参数测试监控 DUT 的物理层质量支持所有 EMVco 和 NFC Forum 标准线圈包括适用于标准定义的测试案例和限制的软件支持所有主要 NFC 标准以及启动器和目标模式的模拟,包括 ISO 14443A/B、ISO 18092、EMVCo、FeliCa、NFC A/B/F/P2P

同厂商产品

NomadLAB是一台便携式NFC抓包分析工具,是一台多功能集成合一的接触式和非接触式协议分析仪,可以支持接触式智能卡和接触式读卡器相关的application level抓包和解析,包括ISO 7816 T=0/1, SWP/HCI, ISO14443, NFC等协议解析。NomadLAB还可以模拟接触式智能卡测接触式读卡器,模拟非接卡测非接读卡器。支持EMV Level 2层面(Paypass, Paywave, Discover等等)的终端测试。
NFC协议分析仪ProxiSPY Quest支持NFC抓包和协议解析:支持ISO/IEC 14443 (A/B/B'), Mifare™,ISO/IEC 15693, Felica™ (JISX 6319)支持NFC -IP1, -IP2 (ISO/IEC 18092, ECMA 340), NFC Forum, EMVCo支持VHBR (ASK up to 6.8Mbps, PSK up to 27 Mbs)支持模拟波形抓包解析和展示Analog View支持场强实时测试测量支持PICC, PCD Performance Tests信号处理时间测试测量支持API二次开发
接触式智能卡协议分析仪ContactLAB支持:模拟接触式读卡器测试接触式智能卡ISO 7816 T=0, T=1, EMV L1 Electrical & Protocol模拟接触式智能卡测试接触式读卡器ISO 7816 T=0, T=1, EMV L1 Electrical & Protocol模拟接触式读卡器测试接触式智能卡SWP/HCI UICC模拟接触式智能卡测试接触式读卡器SWP/HCI UICC作为第三方设备抓取接触式读卡器和智能卡之间交互的信息ISO 7816 T=0, T=1作为第三方设备抓取接触式读卡器和智能卡之间交互的信息SWP/HCI
  • «
  • 1

NFC/智能卡/读卡器测试天线/夹具|KEOLABS (在产)

EOLABS 作为测试工具供应商,设计了与不同标准(如 EMVCo、NFC Forum、ICAO、CEN TS 16794 或 ISO 10373.6)相关的特定天线。

每个天线均由 KEOLABS 设计,以尽可能接近技术要求。


参考价格 :
产品描述
详细指标
软件和手册|白皮书
购买渠道
选件
问大家
视频
测评
口碑
系统与解决方案

 

ISO 卡附件

  • SC-PCD 组件 -4R7 (ISO PCD 组件 1):ProxiLAB ISO 10373-6 高速测试 PCD 组件(Rext 4.7 欧姆版本,最新的 ISO 10373-6 提案)。用于执行第 2 层 ISO 14443 测试。

  • SC-PCD 组件 -1 R(ISO PCD 组件 1):ProxiLAB ISO 10373-6 低速测试 PCD 组件(Rext 1 欧姆版本)。用于执行第 1 层 ISO 14443 测试(AMF 测试)。

  • SC-PCD 组件 – 2R7:高速测试 PCD 装配 4-6 级。PCD 天线和传感线圈,用于根据 ISO 10373-6 标准对非接触式智能卡进行高速 (RExt: 4.7 Ohm) 测试

  • SC-PCD 装配ISO15693:PCD 天线和传感线圈,用于测试实施 ISO 15693 协议的非接触式智能卡

 

 

ISO 读卡器附件

  • SC-REFPICC-第 1 类:ISO 10373-6 PICC 参考探头,ID1 类。ID1 类 PICC 参考探头,用于根据 ISO 10373-6 标准测试非接触式阅读器

  • SC-REFPICC-KIT-CLASS1-3:10373-6 PICC 参考探针,1-3 类。PICC 参考探头套件,带有 1 至 3 类探头,可根据 ISO 10373-6 标准测试非接触式阅读器

 

 

  • SC-REFPICC-KIT-CLASS4-6: 10373-6 PICC 参考探头,4-6 类。PICC 参考探头套件,带有 4 至 6 类探头,可根据 ISO 10373-6 标准测试非接触式阅读器

  •  SC-REFVICC: ISO 15693 VICC 参考探头。VICC 参考探头,用于测试实施 ISO 15693 协议的非接触式读卡器

 

NFC FORUM 配件

  • SC-Poller-Listener-kit 中:用于测试 NFC 对象和系统的 Poller 和 Listener 参考天线

 

 

  • SC-NFC论坛套件:除了轮询器/监听器天线外,KEOLAB还提供了一个“校准测试台”来校准NFC天线+一个KEOKLAMP来维护天线和设备。

 

 

EMVCo 配件

  • SC-EMVCo 检测 PICC v3.0:3个EMVCo PICC调谐于3个频率的套件(2个天线1类调谐于13.56和16.1MHz,1个3类调谐于13.56MHz。

  • SC-EMVCo 测试 PCD V3.0:一根 EMVCo PCD 天线。

 

  • SC-EMVCo 试剂盒:除了 3 个 EMVCo PICC 参考和 PCD 天线外,还增加了 1 个支架,用于使用堆叠器安装测试 PCD,以及 1 个 CMR,用于调节信号并在其输入和输出之间切换信号,以便测试台设置。

 

 

其他配件

  • Micro Nano Sim Flex 套件:4 个 3FF Micro SIM 探头(4 种不同型号)和 4 个 4FF Nano SIM 探头-(4 种不同型号)+ 1 个 Nano SIM R1 超长版本

  • 互连电缆:50 厘米或 100 厘米 SMA/SMA 平台

 

  • SC-RF 探头 4 V1.3

特别适用于移动电话和其他非标准外形尺寸。

 


 

关键词:

 

 

厂家联系方式:

总公司

KEOLABS 法国

17 av Jean Kuntzmann

38330 Montbonnot – 法国

电话 : +33 (0)4 76 61 02 30

传真 : +33 (0)4 76 41 81 68

电子邮件 : 使用联系表格

网站:www.keolabs.com


中国区授权代理商


1、Abe Technologies Shanghai Ltd.

    上海艾北科技有限公司


上海市浦东新区商城路660号乐凯大厦1609室

上海, 201120, 中国

电话:021-60759581、021-60759582、021-60759583

电子邮件: abe@abe-tech.com

网站:www.abe-tech.com


2、Paralink Networks Shanghai Inc.

上海柏联克科技貿易有限公司


上海

上海市中山西路999华闻国际大厦609室

中国 200051 上海市

电话:+86 21 32503992 #102

电子邮件:sales@paralink.com.cn

Web:wwww.paralink.com.cn


北京

Paralink Beijing Office

北京办事处

电话(TEL):     86-15612360018

Address:

公司地址     Rm.316,38#, West Jiancaicheng Rd.,

    Changping District,Beijing,P.R.China . 100085

    北京市昌平区建材城西路9号金燕龙科研楼316室

电子邮件:     beijing@paralink.com.cn

公司網站:   wwww.paralink.com.cn


深圳

Paralink Shenzhen

深圳办事处

电话(TEL): 86-13823172764

公司地址

深圳市南山区科文路一号华富洋大厦一楼NB03单元 (518000)

电子邮件: sales@paralink.com.cn

公司網站: wwww.paralink.com.cn


西安

Paralink Shenzhen

西安办事处

电话(TEL): 86-18049510981

公司地址

西安市高新区锦业路旺都国际大厦A座21层 2102 

电子邮件: sales@paralink.com.cn

公司網站:wwww.paralink.com.cn



 

关键词:

0条提问

X

提问

X

回答

 

关键词:
0条口碑
X

发表口碑

口碑标题
上传图片

收录与合作

产品相关收录:info@onetest.cn

          或致电:+86 755 23033660

商务合作:info@onetest.cn

    或致电:+86 755 23033660

投诉与建议:service@onetest.cn

深圳至一测控技术有限公司

扫一扫,关注我们公众号

获取全球最新产品资讯、资料、软件购买渠道、技术支持

© 2024 Onetest仪器资源库 All Rights Reserved   粤ICP备17028186号-2      粤公网安备44030902003758

3.586455s