STW-ATX自动时频测量标校系统适用于测量频率( 长短期频率稳定度、频率准确度、频率复现性、相位噪声、功率、杂散、谐波等)和时间(时间间隔、1PPS+TOD、IRIG_ B、NTP、 PTP等)指标，系统按照国家计量检定规程JJG292-2009、JG181-2005、JJG349-2014等进行 测试和检定，系统主要用于各大计量站、检测机构等单位。
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单向授时功能，实时接收北斗授时信号获取标准时间； 内置铷钟（锁高稳晶振），作为内部时基信号； 支持外1pps和10MHz参考信号的输入； 输出1pps、10MHz、B码和NTP（监控口兼）；支持1pps、B（DC）、B（AC）、NTP/PTP、E1、TOD等多类时间信号测量； 能够对常用频率信号的功率、频率准确度和频率稳定度测量； 能够在液晶面板上实时显示测量结果（触摸屏）； 内置电池，可以维持2小时测试； 能够将测量结果存储到设备内，并支持USB导出。
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可同时测量频率稳定度，老化，相位漂移等参数测量频率范围：0.5MHz~30MHz；100MHz±10MHz频率稳定度：＜2E-14（典型值：1.2E-14）多通道：标配为4通道，可扩展为16通道（包含参考输入）被测信号与参考信号无需同频每个通道独立控制，均可测量任意频率值取样时间：1ms~1000s配套上位机，测量结果实时显示并存储
支持时间，时钟组合并同时测试，满足不同测试环境要求远程连接测试软件可安装在多种操作系统上支持手动、自动和定时测试方式支持NTP、PTP响应能力测试手持式终端、10寸触摸屏液晶本地显控，操作简便，三步直达支持RMS、标准差等统计分析
STT-ATX 1MHz至30MHz自动时频测量标校系统|同相科技 (在产)
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系统与解决方案
STW-ATX自动时频测量标校系统适用于测量频率( 长短期频率稳定度、频率准确度、频率复现性、相位噪声、功率、杂散、谐波等)和时间(时间间隔、1PPS+TOD、IRIG_ B、NTP、 PTP等)指标，系统按照国家计量检定规程JJG292-2009、JG181-2005、JJG349-2014等进行 测试和检定，系统主要用于各大计量站、检测机构等单位。
产品特征
具备时频信号测量和标校功能
可自动或定时测量，并生成测试报告和曲线
配置频率净化器，提高参考基准精度
多路信号同时测量
数据实时按需保存
产品特性 | 规格名称 | 指标参数 | 备注 |
射频输入 | 频率 | 1MHz~30MHz | |
同时路数 | 4路 | 可增加 | |
频率准确度测量不确定 | 2E-14 | ||
频率稳定度度测量不确定 | ≤ 2.0E-14/1s; ≤ 4.0E-15/10s; ≤ 6.0E-16/100s; ≤ 1.0E-16/1000s | ||
相位噪声（10MHz） | 1Hz ≤ -130dBc/Hz 10Hz ≤ -150dBc/Hz 100Hz ≤ -160dBc/Hz 1kHz ≤ -165dBc/Hz 10kHz ≤ -170dBc/Hz | 选配 | |
频率复现性 | ---- | ||
老化 | ---- | ||
功率 | -100~30dBm | 选配 | |
谐波 | -60dBc | 选配 | |
杂散 | -80dBc | 选配 | |
时间测量 | 路数 | 10路 | 可增加 |
脉冲测量范围 | 0.1ns~10000s | ||
脉冲测量不确定度 | 0.1ns | ||
脉冲测量分辨率 | 0.05ns | ||
IRIG_B(DC)测量不确定度 | 5us | ||
IRIG_B(AC)测量不确定度 | 1us | ||
NTP测量不确定度 | 10us | ||
PTP测量不确定度 | 10ns | ||
TOD测量精度 | 1s | ||
1PPS测量精度 | 0.05ns | ||
监视控制 | 状态监测 | 测量日志 | |
通讯监控 | RS232,115200波特率 RJ45网口 | ||
电源电压 | 输入电压 | 220VAC | |
功率 | ≤200W（25℃） | ||
供电接口 | 220VAC国际插头 | ||
环境 | 工作温度 | -20ºC~+50ºC | |
储存温度 | -40ºC~+90ºC | ||
相对湿度 | 90%无冷凝 | ||
重量尺寸 | 重量 | <100kg | |
尺寸 | 机柜 | ||
ST | - | ATX | A |
① |
①测量类型：A（时间频率测量）、B（时间测量）、C（频率测量）、C（定制）等
关键词:
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