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德思特Spectrum高速数字化仪是德国 Spectrum Instrumentation 旗下高精度数据采集板卡（DAQ），通过 ADC 将模拟信号快速转换为数字信号，提供 PCIe、PXIe、LXI 三种总线平台。产品覆盖 12/14/16/8 位分辨率，采样率 5 MS/s 至 10 GS/s，模拟输入带宽最高 4.7 GHz，数据流传输速率最高 13.9 GByte/s（M5i PCIe x16 Gen3），单卡 1~8 通道、单机箱最多 24 通道，经 Star-Hub 多卡同步可构建 128 通道完全同步采集系统，每通道板载内存最高 8 GSample，输入量程覆盖 ±40 mV 至 ±10 V 并可实现 ±100%~±200% 可编程偏置。产品具备 FIFO 高速流式传输、内存分割、ABA/门控采样、尖峰触发等采集模式，配套 SBench 6 软件（示波器、数据记录仪、频谱分析仪、逻辑分析仪等多功能）及兼容 LabVIEW/C++/MATLAB/C#/Python 的通用驱动，广泛服务于汽车传感器测试与 HIL、量子计算、雷达、航空航天、医疗超声、激光/LIDAR、声学与大物理实验等科研与自动化测试领域。
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Spectrum Instrumentation 高速数字化仪（PCIe/PXIe/LXI 数据采集卡） (在产)
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产品优势
全速度段覆盖：四大系列分别面向超高速（33xx，12 Bit/10 GS/s/4.7 GHz）、高速（22xx，8 Bit/5 GS/s/1.5 GHz）、高分辨率高速（44xx，14/16 Bit/500 MS/s）、通用高精度（59xx，16 Bit/125 MS/s/60 MHz）。
极高的数据吞吐：M5i 平台 PCIe x16 Gen3 持续流式速率超过 13.9 GByte/s；M4i 平台 PCIe x8 Gen2 超过 3.0 GByte/s（可配主板 3.4 GByte/s）；M2p 平台超过 700 MByte/s；LXI 机箱约 100 MByte/s。支持 FIFO 无间隙流式记录，可写入 GPU 或 SSD 阵列实现连续数小时记录。
丰富的采集与触发模式：单次、FIFO、多次记录（Multiple Recording）、门控采样、ABA 模式、Block Average / Block Statistics（选件）、Stream to CUDA-GPU（PCIe 选件）；触发模式含通道、外部、软件、窗口、Re-Arm、延迟、OR/AND 等。
灵活的量程与耦合：50Ω / 1MΩ 输入阻抗、AC/DC 耦合、单端或真差分（非隔离）输入，多档量程与 1% 步进可编程偏置。
多卡同步与大规模系统：Star-Hub 可同步最多 8 块 M5i/M4i 板卡或 16 块 M2p 板卡，卡间时钟偏差保持在 130 皮秒以下；16 块 M2p.5968-x4 可组成 128 通道 @80 MS/s 完全同步采集系统；AWG 与数字化仪可在便携式机箱内同步，用于刺激—响应与闭环应用。
全面的驱动兼容性：兼容 LabVIEW、C++、MATLAB、C#、VB.NET、Delphi、IVI 等多种语言与 Windows/Linux 系统；官方开源 Python 包 spcm（面向对象接口，MIT 许可，GitHub 免费提供完整源码与示例）。
PC/GPU 算力加持：依托 PC 平台算力远超传统专用仪器；SCAPP（GPU 加速 API）显著提升大规模数据运算能力，DDC（数字下变频）作为其一部分可将射频/微波信号转为基带，广泛用于数字无线电、雷达、移动电话、空间或卫星通信。
配套软件 SBench 6 与 Control Center：SBench 6 一机多用（示波器、数据记录仪、数据采集系统、频谱分析仪、逻辑分析仪）；Control Center 提供硬件维护与自检。
品质保障：100% 德国制造，5 年保修，20 年向后兼容，原厂共 137 款数字化仪产品。
产品系列
TS-33xx 系列（12 Bit，高达 10 GS/s，新增）：1/2 通道 PCIe x16 Gen3 板卡（M5i.3321/3330/3337/3350/3357/3360/3367-x16）；带宽 1 GHz / 2 GHz / 3 GHz / 4.7 GHz；10 GS/s（单通道）或 2×5 GS/s（双通道）/ 6.4 GS/s / 3.2 GS/s；50Ω 前端、4 档输入范围 ±200 mV~±2.5 V、±100% 可编程偏置；每通道 1~8 GSample 内存；4 路多功能 I/O；独立散热风扇与全长遮板设计；Star-Hub 最多同步 8 块；SNR 51.3~55.3 dB @10 MHz，ENOB 约 8.1~8.8 LSB；支持 8 位打包模式下 10 GS/s 单通道流式传输。部分型号出口至欧洲/美国/加拿大以外地区需申请出口许可。
TS-22xx 系列（8 Bit，最高 5 GS/s）：1.25/2.5/5 GS/s，带宽 500 MHz（1.25 GS/s）/1.5 GHz（2.5、5 GS/s）；M4i PCIe 版 1/2/4 通道、M4x PXIe 版 1/2/4 通道、DN2 LXI 版 2/4/8 通道、DN6 LXI 版 12/16/20/24 通道；4 GSample 板载内存；标准输入 ±200 mV~±2.5 V，可选 ±40 mV~±500 mV；SNR 46.9/45.6/44.5 dB，ENOB 7.5/7.3/7.1。
TS-44xx 系列（14/16 Bit，最高 500 MS/s）：130 / 180 / 250 / 400 / 500 MS/s 版本；双输入路径——HF 路径 50Ω、±500 mV~±5 V；缓冲路径 1 MΩ、±200 mV~±10 V；SNR 67.8 dB（500/400 MS/s）、71.5 dB（250/180 MS/s）、71.8 dB（130 MS/s），ENOB 11.0~11.6；支持 Boxcar-Average、ABA、门控采样等模式；外部参考时钟 10 MHz~1.0 GHz；Re-Arming Time 40 samples；单槽 168 mm 板卡。
TS-59xx 系列（16 Bit，5~125 MS/s）：591x(5 MS/s)/592x(20)/593x(40)/594x(80)/596x(125 MS/s)；单端或真差分（非隔离）输入，50Ω/1MΩ；±200 mV~±10 V 六档量程，单端偏置 ±100%；SNR 86.0~73.3 dB（1 MHz），ENOB 14.0~11.8；可选 8 路掩码 + 11 路附加数字通道；支持 FIFO、ABA、门控采样、尖峰触发/Hold-off；单槽 168 mm 板卡。
组合与扩展产品
hybridNETBOX：数字化仪 + AWG 混合机箱（支持至 125 MS/s 与至 500 MS/s 两个档位），适合刺激—响应与闭环测试。
TS-75xx 系列数字 I/O 卡（M2p.7515-x4）：32 路数字 I/O，最高 125 MS/s，PCIe x4、1 GByte 板载内存，最多 16 块板卡同步，可与数字化仪/AWG 组成混合模式系统。
定制套装：高电压采集套装（含 EP135 1400V 差分探头）、高速数据采集套装（含射频线缆），均可选星形同步触发模块与 SCAPP。
典型应用
声学（声波测量与声学定位/声纳）、航空航天（材料与推进系统信号测试）、天文学（射电望远镜信号）、自动化测试设备（ATE）、汽车电子（传感器信号测试、汽车诊断、HIL 测试）、大物理实验（大型强子对撞机机器保护系统、DESY）、通信测试（数字无线电/卫星通信 DDC）、光纤应用、高压测试、激光/LIDAR、材料科学、医药科学（超声、MRI、OCT、PET、细胞分选）、纳米技术、量子计算（AWG 激励 + 数字化仪捕获量子位响应信号）、雷达应用（含智能道路雷达）、半导体测试、光谱学（质谱）、超声波（NDT、相控阵、声发射）等。
| 系列 | 分辨率 | 采样率 | 带宽 | 通道数 | 板载内存 | 输入范围 | 平台 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| TS-33xx（M5i.33xx-x16） | 12 Bit | 10 GS/s（1ch）/ 2×5 GS/s（2ch）/ 6.4 GS/s / 3.2 GS/s | 1 / 2 / 3 / 4.7 GHz | 1 / 2（Star-Hub 最多 8 卡） | 每通道 1~8 GSample | ±200 mV / ±500 mV / ±1 V / ±2.5 V，偏置 ±100% 可编程（1% 步进） | PCIe x16 Gen3 |
| TS-22xx | 8 Bit | 1.25 / 2.5 / 5 GS/s | 500 MHz / 1.5 GHz | 1/2/4（M4i、M4x）、2/4/8（DN2）、12/16/20/24（DN6） | 4 GSample | ±200 mV~±2.5 V（标准）；±40 mV~±500 mV（选件）；偏置 ±200% | PCIe / PXIe / LXI |
| TS-44xx | 14 / 16 Bit | 130 / 180 / 250 / 400 / 500 MS/s | 材料未明确（≤500 MS/s 级） | 2 / 4（PCIe、PXIe）；LXI 多通道 | 2 GSample（各版本合计口径） | HF 路径 50Ω：±500 mV~±5 V；缓冲路径 1 MΩ：±200 mV~±10 V | PCIe / PXIe / LXI |
| TS-59xx | 16 Bit | 5 / 20 / 40 / 80 / 125 MS/s | 60 MHz | 1~8（单卡）；多卡同步至 128 通道（16 卡 @80 MS/s） | 512 MSample | 50Ω / 1MΩ；±200 mV~±10 V；单端偏置 ±100%；单端或真差分 | PCIe / LXI |
补充指标：TS-33xx SNR 51.3~55.3 dB @10 MHz、ENOB 8.1~8.8；TS-22xx SNR 44.5~46.9 dB、ENOB 7.1~7.5；TS-44xx SNR 67.8~71.8 dB、ENOB 11.0~11.6；TS-59xx SNR 73.3~86.0 dB、ENOB 11.8~14.0。触发模式均含 Channel/External/Software/Window/Re-Arm/Delay/OR-AND（59xx 另有 Pulse、Hold-off）；采集模式含 Single-Shot、FIFO、Multiple Recording、Gated Sampling、ABA，部分系列支持 Block Average / Block Statistics / Stream to CUDA-GPU（选件）。外部参考时钟：33xx 2 MHz~750 MHz、22xx 10 MHz~1.25 GHz、44xx 10 MHz~1.0 GHz、59xx 128 kHz~125 MHz。
全部
本产品由广州德思特科技有限公司（Spectrum Instrumentation 中国区合作伙伴）提供销售与技术支持。了解更多产品信息、申请试用或获取报价，请访问德思特官网 www.tesight.com，或致电全国服务热线 400-999-3848。德思特提供培训服务、项目咨询、检测认证校准及集成与二次开发等全方位技术服务，并可提供高电压采集套装、高速数据采集套装等定制方案。
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