支持PCIe 8Gbps/5Gbps/2.5Gbps速率;
Tx,Rx,时钟以及CMTS信号均使用SMP接口;
x1和x16接口各自独立;
高速信号微带线设计,阻抗85+/-8.5欧姆;
Tx和Rx信号分别等长设计,Tx 2000mil,Rx 4000mil;
板载CMTS产生电路,用于测试码型切换;
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PCIE 3.0 CLB x1x16测试夹具,支持PCIe 3.0 mother board电气性能测试 |海凌克电子 (在产)
特性:
支持PCIe 8Gbps/5Gbps/2.5Gbps速率;
Tx,Rx,时钟以及CMTS信号均使用SMP接口;
x1和x16接口各自独立;
高速信号微带线设计,阻抗85+/-8.5欧姆;
Tx和Rx信号分别等长设计,Tx 2000mil,Rx 4000mil;
板载CMTS产生电路,用于测试码型切换;
应用领域:
PCIe 3.0 mother board电气性能测试;
维保:
夹具非人为损坏质保一年;
IO连接器及同轴连接器属易耗品,不在维保范围;
厂家联系方式:
电话: +86 186 8883 5304
邮箱: sales@hilinkelec.com
地址: 陕西省西安市雁塔区锦业一路56号研祥城市广场广场B座2030室
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