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类似产品

功能测试使用标准协议检查基本 NFC 功能通过减少信令对所有关键 NFC 标准进行功能验证RF 参数测试监控 DUT 的物理层质量支持所有 EMVco 和 NFC Forum 标准线圈包括适用于标准定义的测试案例和限制的软件支持所有主要 NFC 标准以及启动器和目标模式的模拟,包括 ISO 14443A/B、ISO 18092、EMVCo、FeliCa、NFC A/B/F/P2P

同厂商产品

ProxiLAB Quest是一台多功能集成合一的NFC测试设备,可以支持非接触式智能卡和非接触式读卡器相关的所有测试,支持ISO14443, ISO15693, Felica, NFC Forum, EMVCo Level 1, ICAO电子护照等测试。支持NFC测试,模拟非接触式读卡器测试非接卡,或模拟非接卡测非接读卡器支持ISO/IEC 14443 (A/B/B'), Mifare™,ISO/IEC 15693, ISO/IEC 18000-3,Felica™ (JISX 6319)支持NFC -IP1, -IP2 (ISO/IEC 18092, ECMA 340), NFC Forum, EMVCo支持VHBR (ASK up to 6.8Mbps, PSK up to 27 Mbs)支持EMD, 支持Active PICC, 支持Phase Drift相位偏移测试支持最小启动场强测试,支持性能Performance测试,支持场强实时测试测量支持Shmoo测试,支持VNA功能,谐振频率,Q值等测试支持扩展升级EMVCo L1, NFC Forum, ISO10373-6, ICAO等测试系统支持产线测试

NFC Forum测试认证系统|KEOLABS (在产)

NFC手机近场通信测试套件

模拟非接触式读卡器测试非接触式智能卡

EMV L1 PICC Analog

EMV L1 PICC Digital

ISO 14443 PICC Analog (ISO10373-6)

ISO 14443 PICC Digital (ISO10373-6)

NFC Forum Analog (Listen Mode)

NFC Forum Digital

模拟非接触式智能卡测试非接触式读卡器

EMV L1 PCD Analog

EMV L1 PCD Digital

ISO 14443 PCD Analog (ISO10373-6)

ISO 14443 PCD Digital (ISO10373-6)

NFC Forum Analog (Poll Mode)

NFC Forum Digital



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系统与解决方案

NFC Forum测试认证系统

NFC Forum近场通信测试认证系统,支持NFC论坛测试要求,支持NFC卡模式和读卡器模式的射频和协议层测试,支持ISO 14443, 即ISO 10373-6测试标准,支持EMVCo Level 1测试标准,满足新的NFC Forum, ISO 14443 (ISO10373-6), EMVCo规范要求,获得NFC Forum、EMVCo等组织授权许可。

功能简介

NFC手机近场通信测试套件

模拟非接触式读卡器测试非接触式智能卡

  • EMV L1 PICC Analog

  • EMV L1 PICC Digital

  • ISO 14443 PICC Analog (ISO10373-6)

  • ISO 14443 PICC Digital (ISO10373-6)

  • NFC Forum Analog (Listen Mode)

  • NFC Forum Digital

模拟非接触式智能卡测试非接触式读卡器

  • EMV L1 PCD Analog

  • EMV L1 PCD Digital

  • ISO 14443 PCD Analog (ISO10373-6)

  • ISO 14443 PCD Digital (ISO10373-6)

  • NFC Forum Analog (Poll Mode)

  • NFC Forum Digital


NFC Forum近场通信测试认证系统

提供测试系统支持:

EMVCo PCD Analog 非接终端模拟测试
EMVCo PCD Digital 非接终端数字测试
EMVCo Reduced Range非接终端射频测试
EMVCo PICC Analog非接卡模拟测试
EMVCo PICC Digital非接卡数字测试
EMVCo Mobile Analog非接手机射频测试
ISO/IEC 10373-6 PCD Analog非接终端模拟测试
ISO/IEC 10373-6 PCD Digital 非接终端数字测试
ISO/IEC ISO18745-2 (ICAO) PCD Analog非接终端模拟测试
ISO/IEC ISO18745-2 (ICAO) PCD 非接终端数字测试
CEN-TS 16794-2 (transport) PCD 非接终端模拟测试
CEN-TS 16794-2 (transport) PCD 非接终端数字测试
ISO/IEC 10373-6 PICC非接卡模拟测试
ISO/IEC 10373-6 PICC非接卡数字测试
ISO/IEC 18745-2 (ICAO) PICC非接卡模拟测试
ISO/IEC 18745-2 (ICAO) PICC非接卡数字测试
CEN/TS 16794-2 (transport) PICC非接卡模拟测试
CEN/TS 16794-2 (transport) PICC 非接卡数字测试
eMRTD PICC Application BAC/SAC/PACE电子护照应用层测试
eMRTD PICC Application EAC电子护照应用层EAC测试
eMRTD PCD Inspection System电子护照读卡器应用层测试
NFC Forum Poller & Listener Analog 模拟测试
NFC Forum Poller & Listener Digital 数字 NFC Forum 数字测试
NFC Forum Initiator & Target LLCP/SNEP 应用测试

作为一个完整的自动测试系统,根据NFC Forum等规范定义的测试标准,提供成熟的案例库软件,对卡片进行逐个案例依次测试。产生测试log,测试波形,测试结果,测试报告等。供用户直观的了解和分析待测物对NFC ForumISO 10373-6EMVCo等测试标准的符合性。
其中测试案例集包括:
(1)最小和最大功率发射测试
(2)载波频率测试
(3)重置特性测试
(4)阈值水平测试
(5)现场激活和停用测试
(6)调制测量测试
(7)负载调制振幅接收测试
(8)NFC论坛NFC-A卡片通信协议测试
(9)NFC论坛NFC-B卡片通信协议测试
(10)NFC论坛NFC-F卡片通信协议测试
(11)NFC论坛3型标签(T3T)平台测试
(12)NFC论坛4A型标签(T4AT)和4B型标签(T4 BT)平台测试
(13)NFC论坛5型标签(T5T)平台测试
(14)NFC论坛NFC-A对等测试
(15)NFC论坛NFC-F对等测试
(16)NFC论坛ACM对等测试
(17)PICC传输测试
(18)PICC EMD电平和低EMD时间测试
(19)PICC接收测试测试
(20)PICC谐振频率测试
(21)PICC最大负载效应测试
(22)PICC操作场强测试
(23)轮询类型A测试
(24)PICC A类状态转换的测试
(25)A类防碰撞处理测试
(26)RATS的处理测试
(27)PPS请求的处理测试
(28)FSD的处理测试
(29)帧延迟时间PICC对PCD和SFGT的处理测试
(30)PICC比特率能力测试
(31)轮询类型B测试
(32)PICC成帧和比特率能力测试
(33)PICC B型状态转换的测试
(34)B型防撞装置的处理测试
(35)ATTRIB的处理测试
(36)最大帧的处理测试
(37)TR2和SFGT的处理测试
(38)PICC对ISO/IEC 14443-4场景的反应测试
(39)PICC错误检测的处理测试
(40)PICC对CID的反应测试
(41)PICC对NAD反应测试
(42)PICC对S(PARAMETERS)块的反应测试


硬件组件

PROXILAB QUEST – CONTACTLESS TESTER

SC-ProxiLAB Quest: Fully programmable card (PICC), reader (PCD) and NFC signal emulator for device characterization and protocol conformance verification.

ProxiLAB Quest offers the performance and features required for full characterization and conformance validation of all 13.56 MHz contactless technologies, including the latest very high bit-rate evolutions.

NFC FORUM 配件

  • SC-Poller-Listener-kit 中:用于测试 NFC 对象和系统的 Poller 和 Listener 参考天线

 

  • SC-NFC论坛套件:除了轮询器/监听器天线外,KEOLAB还提供了一个“校准测试台”来校准NFC天线+一个KEOKLAMP来维护天线和设备。

 

其他配件

  • SC-Dongle : Dongle for test suite in order to benefit from flexible and dynamic licenses

  • SC-RF Probe 4 V1.3: Specifically adapted for use with mobile phones and other non-standard form factors. 

OSCILLOSCOPE

LECROY HDO6034-A: 12-bit ADC and Xdev options  integrated into the SCRIPTIS™ based solutions to allow full control of the analog test benches for EMVCo analog-level testing.

 

RF AMPLIFIER

BOWEN 50w – 50 Ohms: 10-250 MHz, variable gain RF signal amplifier covers the power range required by EMVCo Standard. It is also capable of amplification beyond this range for the alternating magnetic field test based on ISO14443 standard.

ROBOT 6 AXIS WITH AUTOMATION SYSTEM

SC-ROB6x- VS060: It allows sweeping the operating volume automatically. This robot manages the acceleration EMVCo constraints i.e. more than 8 M/s.
The robot is delivered with specific support to adapt the Probes according to test specification.
A cage is available in option for a safety environment. If not, the Robot arm needs to be fixed on a wooden table.
If the robot is bought without the protection cage proposed by KEOLABS, the robot must be integrated in a secured environment in compliance with Directive 2006/42/EC.

 


 

关键词:

 

 

厂家联系方式:

总公司

KEOLABS 法国

17 av Jean Kuntzmann

38330 Montbonnot – 法国

电话 : +33 (0)4 76 61 02 30

传真 : +33 (0)4 76 41 81 68

电子邮件 : 使用联系表格

网站:www.keolabs.com


中国区授权代理商


1、Abe Technologies Shanghai Ltd.

    上海艾北科技有限公司


上海市浦东新区商城路660号乐凯大厦1609室

上海, 201120, 中国

电话:021-60759581、021-60759582、021-60759583

电子邮件: abe@abe-tech.com

网站:www.abe-tech.com


2、Paralink Networks Shanghai Inc.

上海柏联克科技貿易有限公司


上海

上海市中山西路999华闻国际大厦609室

中国 200051 上海市

电话:+86 21 32503992 #102

电子邮件:sales@paralink.com.cn

Web:wwww.paralink.com.cn


北京

Paralink Beijing Office

北京办事处

电话(TEL):     86-15612360018

Address:

公司地址     Rm.316,38#, West Jiancaicheng Rd.,

    Changping District,Beijing,P.R.China . 100085

    北京市昌平区建材城西路9号金燕龙科研楼316室

电子邮件:     beijing@paralink.com.cn

公司網站:   wwww.paralink.com.cn


深圳

Paralink Shenzhen

深圳办事处

电话(TEL): 86-13823172764

公司地址

深圳市南山区科文路一号华富洋大厦一楼NB03单元 (518000)

电子邮件: sales@paralink.com.cn

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西安

Paralink Shenzhen

西安办事处

电话(TEL): 86-18049510981

公司地址

西安市高新区锦业路旺都国际大厦A座21层 2102 

电子邮件: sales@paralink.com.cn

公司網站:wwww.paralink.com.cn



 

POLLER/LISTENER LICENSE OPTIONS

  • NFC Forum for Analog Protocol Testing (CR11.1/CR12): This NFC FORUM Analog test suite is compatible with the following standard: NFC Forum Test Case for Analog Version 2.011_2017-06-20 which is compliant with the NFC Certification Release 11 (CR11), and also included the Test Case for Tag Performance Version 1.0.00 2017-06-20-CR11.

  • NFC Forum for Digital Testing (CR11.1/CR12): This NFC FORUM Digital test suite is compatible with the following standard: NFC FORUM Test Cases for Digital Protocol Version 2.0.00 2017-04-30-CR11, also included the Test Cases for Type 2, 3, 4 and 5 Tag and Type 1, 2, 3 and 4 Tag Operation-CR11.

 

  • NFC Forum for LLCP and SNEP Testing (CR11.1 / CR12): This NFC FORUM SNEP/LLCP test suite is compatible with the following standard: NFC FORUM Test Cases for LLCP Version 1.2.01 (December 2016), NFC FORUM Test Cases for SNEP Version 1.0.06 (December 2016).


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