支持多类型、多站点测试的桌面式芯片测试机，采用6U标准机箱结构，可用于晶圆级芯片（CP）、前端模组（FEM）、系统级芯片（SoC）和系统级（SLT）产品的快速技术验证和小批量测试。
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强大射频测试能力的芯片测试机，支持复杂的射频功能芯片的晶圆级、封装级和系统级测试。高通量配置使其可以很好地适应量产环境的要求。
E6400 10MHz至6/22/44/110GHz 高达24通道桌面式射频SoC芯片测试机 100MHz带宽|铭剑电子 (在产)
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产品名称： 桌面式射频SoC芯片测试机E6400 (Bench-top Tester E6400)
支持多类型、多站点测试的桌面式芯片测试机，采用6U标准机箱结构，可用于晶圆级芯片（CP）、前端模组（FEM）、系统级芯片（SoC）和系统级（SLT）产品的快速技术验证和小批量测试。
产品概述：
支持多类型、多站点测试的桌面式芯片测试机。
采用6U标准机箱结构。
可用于晶圆级芯片（CP）、前端模组（FEM）、系统级芯片（SoC）和系统级（SLT）产品的快速技术验证和小批量测试。
紧凑的物理结构降低对测试实验室的环境要求，柔性的测试架构降低测试成本。
使用灵活、方便。
技术参数：
射频测试：
基础频率： 10-6000MHz，可扩展至22GHz/44GHz/110GHz。
基础测试功率： -120~10dBm，扩展至30dBm。
射频测试端口： 高达24路。
支持射频芯片、RF FEM、数模混合芯片、SoC芯片及系统级测试。
系统集成： 支持测试站点互联、分选机和探针台集成测试。
数字测试：
数字带宽：100MHz。
最高可配置128通道。
支持PPMU测试。
模拟测试：
电流范围：5uA~1A。
电压范围：-2~+6VDC。
最高可配置：96通道。
产品应用：
Filter、Switch、PA、LNA、DiFEM、PAMiD、LFEM、被测 Transceiver Module、Baseband、mmWave Front End、产品 WiFi FEM、WiFI SOC、GNSS SOC、SatCom SOC、Radar SOC、AIoT SOC、MCU
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厂家联系方式：
400-101-2029
邮箱：sales@matrix-system.com.cn
地址：上海市闵行区紫月路1000号
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