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致茂电子展示一个崭新的温控方案「Nitro-TEC温度控制技术」，此技术主要是将「氮气」的应用与「TEC 温控系统」进行结合，以达到更精准的温度控制。
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应用于芯片、器件、模块/组件在-55°C~+125°C高低温环境下自动化测试、分选；设备配备高低温试验箱(分别提供高温和低温试验环境)、高低温运动平台、料盘周转系统、高低温视觉系统和自动测试软件；可实现自动上下料和在高温和低温环境下并行测试,保证产品测试的可靠性和连续性；自动进行高低温测试切换，无须人工干预。
应用于芯片、器件、模块/组件在-55℃~+125℃高低温环境内的自动化测试、分选；实现高低温实验箱内循环预温、自动取放料、自动测试、自动分选、数据分析等功能，保证产品测试的可靠性和连续性。专利高低温视觉系统，高低温环境下实时对器件进行识别、定位、OCR识别等；智能的高低温运动控制算法，支持Socket快换；快速温变率≥5℃/min（可选配温变率更高或更低的温箱）。
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3160-C 0.6 Sec三温终端测试分类机 2/4 Sites|致茂电子Chroma (在产)
产品描述
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系统与解决方案
致茂 Chroma
3160-C 三温终端测试分类机
0.6 Sec · 2/4 Sites
产品简介
致茂电子展示一个崭新的温控方案「Nitro-TEC温度控制技术」，此技术主要是将「氮气」的应用与「TEC 温控系统」进行结合，以达到更精准的温度控制。与传统的液态氮冷却系统比较起来，Nitro-TEC的温度控制技术主要有下列几项优点：。
致茂电子3160-C是一台可提供大量且多个IC测试的分类机。该设备可提供多种封装方试的IC测试，且支持1/2/4 sites的测试需求。另外，由于可靠的机构及功能设计，也让该设备能提供更高的产出及降低设备当机率，3160-C能更有效提升生产力并缩短更换Kit部件的时间，且主动式温控系统(ATC)更可提供待测物-55°C to 150°C的测试环境。
产品功能与优势
主要特点
• 先进的温控技术(Nitro-TEC 氮气温度控制器)
• 更快的Index Time(0.6 Sec)
• 主动式温度控制并且提供更全面的测试温度区间
• Chamber Less的设计
• 支持更多样化测试Sites的选择(1/2/4 Sites)
• 更简单快速的更换Kit
Nitro TEC 温度控制技术
主要型号与技术规格
该系列共收录 1 个具体型号，以下为前 1 个（完整规格见详细指标页）。
• 3160-C 叙述 三温终端测试分类机
资源下载
• 3160-C 详细指标见 3160-C 详细指标页。
• 官方 PDF（型录）：3160_C-EN.pdf
注：以上内容与指标均取自致茂电子（Chroma）官网该产品详情页与官方产品资料，未标注口径的为厂家公布值。
致茂电子（Chroma ATE Inc.） · onetest 仪器资源库
致茂 Chroma
3160-C 详细指标
0.6 Sec · 2/4 Sites
详细指标
以下规格取自致茂 Chroma 官网该产品详情页型号表，共 1 个具体型号。
3160-C
• 叙述：三温终端测试分类机
官方规格矩阵
• ▲ Auto Tray Load / Unload：▲ Pre-Soak / ▲ Test Head
• ▲ Rotator：▲ Defrost / ▲ Programmable Probe
资源下载
• 3160-C 产品介绍见 3160-C 产品介绍页。
• 官方 PDF（型录）：3160_C-EN.pdf
注：以上内容与指标均取自致茂电子（Chroma）官网该产品详情页与官方产品资料，未标注口径的为厂家公布值。
致茂电子（Chroma ATE Inc.） · onetest 仪器资源库
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