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在EMC认证测试之前检测 EMC的问题，避免再次检测，节省时间和金钱。
通过重复和一致性的测量，非常容易比较不同的设计备选方案。
通过消除内部EMI热点，提高设计质量。
功能强大且易于使用的软件可以对任何频率的电磁干扰信号发射或者抗扰度热点进行出色的可视化显示。
多维 2D、3D 或 4D 扫描（3D 加近场探头尖端旋转），提供有关 EMI 噪声源的有价值信息。
以低至 25um 的步长进行扫描，可以对 IC 内部噪声进行测量。
支持市场上100多种不同型号的频谱分析仪，我们也会不断为新型号频谱分析仪创建新的驱动程序。
SCN系列有三种不同的尺寸，以适应大多数DUT的需要。将0.1 mm的高扫描分辨率与探头旋转相结合，以及一流的扫描软件，SCN系列可以提供强大的可视化EMC预兼容扫描测试。对于元器件/模块/组件高度起伏不同的电路板，可选的激光测距选件可以跟踪 DUT 的表面进行激光测距扫描，按照与 DUT 固定距离进行测量的要求，自动创建 DUT 的精确 3D 扫描路径模型。
一个完整的扫描仪系统由 EMC 扫描仪硬件套件、Detectus 扫描软件 （DSS）、频谱分析仪和运行扫描仪软件的 PC 组成。如果客户需要，Pendulum Instruments可以提供全部系统，但通常情况下客户已经拥有自己的 PC 和频谱分析仪。
将测试对象放在扫描坐标板上，一个小型近场探头按照扫描软件设定并可重复的路径在测试对象上方进行移动扫描，同时记录场强。在每个扫描位置上近场探头输出的信号由频谱分析仪测量，并传输到扫描仪软件。扫描系统软件将空间位置信息（X，Y，Z）与该位置的电磁辐射信号的频谱相结合，并显示详细的测量结果。
扫描器的步长为 0.1mm，可以在模块包装内部精确定位发射源，成本和 1mm 扫描仪相当。
您可以使用Pendulum Instruments标准近场探头套件扫描直到10 GHz频率范围的电磁辐射信号。如果用户拥有更高的频率，例如70 GHz，的近场探头，那们在通常情况下EMC扫描仪也可以连接使用这些探头进行扫描，扫描仪软件没有频率范围的限制，但客户的频谱分析仪需要能够支持这些探头更高的频率范围。
在 Detectus SCN 系列扫描仪中，您可以选择不同的扫描尺寸，以适应大多数的测试对象。扫描区域 （WxDxH） 如下所示：
200×100 mm (2D scanning without Z-axis and probe rotation)
200x100x100 mm (4D = 3D scanning with probe rotation)
300x200x100 mm (4D = 3D scanning with probe rotation)
600x400x300 mm (4D = 3D scanning with probe rotation)
在产品设计的早期阶段使用 EMC预兼容测试扫描仪，您可以检测潜在的辐射和抗扰度问题并及时纠正。如果这些问题已经集成到产品中后再去扫描检测，那么纠正的成本就会很高昂。
如果产品在EMC认证测试中未通过，通常您只会知道哪个频率没有通过，而不会知道噪声源的位置信息。EMC 扫描仪可以帮助您找到电磁辐射噪声源的位置，在您重新设计产品时可以进行多次重复测量，帮助您降低电磁辐射信号的强度以便顺利通过认证测试。
同样如果您产品的问题是抗干扰问题，您可以选择抗干扰测试选件来扫描产品的电磁敏感区域，并可以重复测量，加强您产品的抗电磁信号干扰特性。
您可以对产品不同的设计方案进行扫描，并对电磁辐射测量结果进行比较。
EMC 扫描仪可以帮助在生产线上保证产品质量，通过对生产线上的样品进行测量，并很容易将测量结果与参考标准进行比较。通过这种方式可以确保，例如在更换元器件/模块的供应商的情况下，不会导致电磁辐射信号超标。
易于使用且功能丰富的 DSS 软件可让您在元器件级别，甚至在模块的内部，测量和可视化显示电磁辐射信号的强度和位置，测量结果可以二维或者三维彩色显示，并可以轻松的重复测量，从而可以对多次的测量结果进行客观比较。
由于扫描仪可以精确的重复扫描，测量结果可以保存，所以在产品的板级升级改进过程中，可以对不同版本的电路板的电磁辐射测量结果进行精确比较。扫描仪软件甚至允许两个扫描结果相减，以得到由于任何电路板布局或组件变化而引起的电磁辐射信号的真正差异。
自 20 世纪 90 年代以来，瑞典Detectus公司 一直是 EMC 扫描仪产品世界领先的供应商。2020年7月，瑞典Detectus公司被Pendulum Instruments公司收购。
Pendulum/Detectus系列 EMC 扫描仪是功能强大的用于测量和分析电磁干扰 （EMI）的预兼容测试工具，。这些扫描仪可以对电磁干扰信号进行可重复的高分辨率扫描测试，也有抗扰度测试选件，扫描步进低至25um，IC测试选件也可以对 IC 内部的干扰信号进行扫描。
Pendulum Instruments的EMC预兼容测试扫描仪的近场探头套件的频率范围为 3、6 或 10 GHz，但可以扩展使用第三方近场探头套件，EMC扫描仪系统没有频率范围的限制，因此只要您的频谱分析仪和近场探头可以支持，您可以测量任何频率的电磁干扰信号。
功能强大的 Detectus 扫描软件 （DSS） 是一款出色易用的扫描软件，用于控制扫描的过程、可视化和记录测量的结果。扫描软件的驱动程序库支持市场上的数百种频谱分析仪，我们也在不断增加来自频谱仪制造商的新型号频谱分析仪的驱动程序。
扫描仪有不同的尺寸，以适应各种不同尺寸的测试对象。扫描仪可以进行2D，3D甚至4D（3D移动加上探头的0-360o旋转）的扫描。 全新 SCN-500 系列EMC 扫描仪将为 EMC 扫描设定新的行业标准
在产品开发过程中越早发现您产品的 EMC 热点，整改补救的成本就会越低！
在EMC认证测试之前检测 EMC的问题，避免再次检测，节省时间和金钱。
通过重复和一致性的测量，非常容易比较不同的设计备选方案。
通过消除内部EMI热点，提高设计质量。
功能强大且易于使用的软件可以对任何频率的电磁干扰信号发射或者抗扰度热点进行出色的可视化显示。
多维 2D、3D 或 4D 扫描（3D 加近场探头尖端旋转），提供有关 EMI 噪声源的有价值信息。
以低至 25um 的步长进行扫描，可以对 IC 内部噪声进行测量。
支持市场上100多种不同型号的频谱分析仪，我们也会不断为新型号频谱分析仪创建新的驱动程序。
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SCN series HRE series Number of individual models 4 4 Max. DUT sizes (WxDxH) in mm 270x<inf.>x100 270x<inf.>x100
470x<inf.>x100
770x<inf.>x300280x180x85 280x180x85
660x370x130 660x370x130Max scan area (WxDxH) 200×100 (2D)
200x100x100 300x200x100
600x400x300280x180x85 280x180x85
390x280x130 390x280x130Minimum step size 0,1 mm 25 um Scanning dimensions 2D
3D + probe rotation
3D + probe rotation
3D + probe rotation3D
3D + probe rotation 3D
3D + probe rotation3, 6 or 10 GHz Probe set yes yes User friendly scanner control and visualization SW yes yes SW Driver support for hundreds of Spectrum Analyzers yes yes Laser control of probe tip distance to DUT yes no IC measurement kit no option EMC Immunity testing SW option option Strip-line calibration option option Calibrate to beacon option yes One year free support and updates yes yes
Detectus AB /摆锤仪器
china-office@pendulum-instruments.com
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