S 参数 DC 至 40 GHz,单端和混合模式
具有 <1 mm 分辨率、差分和共模的阻抗曲线
内部自动 OSLT 校准
USB 连接,体积小,重量轻
灵活显示测量值
消除固定装置、连接器和电缆的影响
使用 CTLE、DFE 和 FFE 均衡模拟眼图
高级抖动分析
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WavePulser 40iX DC至40GHz高速互连分析仪/TDR|Teledyne LeCroy (在产)
WavePulser 40iX 是高速硬件设计人员和测试工程师理想的单机测量工具。 单次采集中的 S 参数(频域)和阻抗曲线(时域)与深度工具箱相结合,可提供无与伦比的高速互连表征洞察力。
S 参数 DC 至 40 GHz,单端和混合模式
具有 <1 mm 分辨率、差分和共模的阻抗曲线
内部自动 OSLT 校准
USB 连接,体积小,重量轻
灵活显示测量值
消除固定装置、连接器和电缆的影响
使用 CTLE、DFE 和 FFE 均衡模拟眼图
高级抖动分析
完整的频率表征,频率范围从 DC 到 40 GHz,并支持单端和混合模式 S 参数。 内置自动内部校准快速简便。WavePulser-40iX-BUNDLE提供的 OLST 校准套件, 允许根据需要移动测量参考平面。
以 <1 mm 的空间分辨率精确定位损伤,并支持差分和共模阻抗曲线。 提供 TDR 和 TDT 功能以完全覆盖反射和传输响应。
WavePulser 40iX 测量已准备好使用标准深度工具箱进行仿真,用于仿真、去嵌入和时间选通。 内置眼图显示还允许均衡仿真。 高级抖动分析允许测量总抖动 (Tj)、随机抖动 (Rj) 和确定性抖动 (Dj),并将 Dj 反卷积为分量部分和各种抖动视图。
WavePulser 校准标准是内置的(包括在标准单元中)并且校准始终是自动的、简单和快速的——与 DUT 建立一个连接并按下 Go。 WavePulser 不需要购买额外的外部校准标准。 此外, WavePulser基于 TDR/TDT 的方法独立于设置,因此不太可能进行校准。
WavePulser 为 DC 提供结果,并扩展到 40 GHz 的带宽,因此 TDR 阶跃响应和时间门控 和/或 仿真物理层信号响应可以避免低频和 DC 响应的外推 - 非常适合互连系统。 高速互连测试的设置和可用性。
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产品描述 | 产品代码 |
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高速互连分析仪 | WavePulser-40iX |
4端口,S参数,DC-40 GHz,<1 mm空间分辨率,内部校准,4根相位匹配电缆 | |
高速互连分析仪套装 | WavePulser-40iX-BUNDLE |
包括WavePulser-40iX和WavePulser-40iX-SI-KIT |
深度分析工具箱,包括模拟均衡眼图(CTLE、FFE、DFE、PLL)和高级抖动分析以及模拟受控损伤的串行数据模式。还包括USB Hasp密钥、女性2.92毫米适配器(每个端口一个)、OSLT校准套件、通用扳手和扭矩扳手。 | WavePulser-40iX-SI-KIT
Signal Integrity Studio的附加许可证(USB Hasp密钥),用于WavePulser 40iX高速互连分析仪的分析和模拟软件。 | WavePulser-SISTUDIO
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