频率范围:50kHz至3/26.5/40GHz
偏置频率:0.01 Hz至160 MHz
相位噪声灵敏度:-200 dBc/Hz (with +23 dBm input signal)
测量功能:
Absolute or residual phase noise
n/a
CW or pulsed carrier
Low-level spurious signals
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N5511A 50kHz至3/26.5/40GHz 1/2通道相位噪声测试系统 偏置频率0.01 Hz至160 MHz|是德/KEYSIGHT (在产)
相位噪声分析仪特点
专为相位噪声测试系统高级用户设计
Keysight N5511A 相位噪声测试系统(PNTS)的量程最低达到 kl(-177 dBm/Hz),让您可以执行物理极限测量。 N5511A PNTS 可替代经典的 Keysight E5500 相位噪声测量系统,满足高级用户的相位噪声测量需求。
专为高端市场中的高级用户而设计,帮助他们执行更精准的相位噪声测量
其灵活的体系结构方便用户集成卓越的参考资源(无论是用户自有的还是我们的都可以),并且充满信心地迅速应对具体挑战
现场可编程门阵列(FPGA)中的多段硬件互相关
使用相位检测器(正交)方法和交叉谱平均(互相关)方法测量绝对相位噪声和剩余相位噪声,灵敏度可以达到 kl 热相位本底噪声(-177 dBm/Hz)
相位噪声测试系统是一种更灵活的测量解决方案
N5511A 相位噪声测试模块化体系结构充分发挥独立仪器的优势,为相位噪声测量提供卓越的频偏范围、丰富的功能、出色的灵敏度和性价比。 它支持任意一种电子频率可调的参考信号源,因此当性能更高的新型信号发生器上市之后,您可以获得更好的性能
绝对和残差相位噪声测量:
使用相位检测器(正交)方法测量绝对和残差相位噪声,支持单通道和双通道配置。
双通道配置允许使用交叉谱平均(互相关的)方法,以提高灵敏度,直至达到热相位噪声底限“kT”,即-177 dBm/Hz。
单端口和双端口设备测量:
能够测量单端口设备(如压控振荡器VCO、温差振荡器DRO、晶体振荡器、合成器等)和双端口设备(如放大器、频率转换器、频率分频器等)。
支持连续波(CW)、脉冲和杂散信号的测量。
噪声底限(灵敏度):
噪声底限优于-200 dBc/Hz(在输入RF信号+23 dBm及以上时,使用互相关方法)。
射频载波上的AM噪声测量:
能够测量从50 kHz到40 GHz的射频载波上的AM噪声。
基带噪声测量:
基带噪声测量范围从0.01 Hz到160 MHz。
脉冲射频测量:
使用内置的内部或客户提供的外部脉冲重复频率(PRF)滤波器进行脉冲射频测量。
技术支持: N5511A 相位噪声测试系统 - 是德科技Keysight
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N5511A-CH1 | 1-Channel | |
N5511A-CH2 | 2-Channel with cross-correlation |
N5511A-503 | 3 GHz max carrier frequency | |
N5511A-526 | 26.5 GHz max carrier frequency | |
N5511A-540 | 40 GHz max carrier frequency |
N5511A-SS1 | Additional removable solid state drive, Win10 |
N5511A-K26 | Phase noise measurement interface | |
N5511A-2CM | Rack mount kit, flush mount and two standard rails | |
N5511A-3CM | Rack mount kit, PNMI |
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