可同时测量频率稳定度,老化,相位漂移等参数
测量频率范围:0.5MHz~30MHz;100MHz±10MHz
频率稳定度:<2E-14(典型值:1.2E-14)
多通道:标配为4通道,可扩展为16通道(包含参考输入)
被测信号与参考信号无需同频
每个通道独立控制,均可测量任意频率值
取样时间:1ms~1000s
配套上位机,测量结果实时显示并存储
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                                                可同时测量频率稳定度,老化,相位漂移等参数
测量频率范围:0.5MHz~30MHz;100MHz±10MHz
频率稳定度:<2E-14(典型值:1.2E-14)
多通道:标配为4通道,可扩展为16通道(包含参考输入)
被测信号与参考信号无需同频
每个通道独立控制,均可测量任意频率值
取样时间:1ms~1000s
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STT-PC系列多通道比相仪是针对信号的稳定性研制的专用测试设备。该设备配套上位机软件,对频率准确度、频率稳定度、频率漂移、相位漂移等信号特征进行测试。可取代传统比相仪和频标对比器。支持0.5MHz~30MHz/100MHz±10MHz范围内任意频率点的测试,设备具有操作简单,测量精度高的特点。

产品特征
可同时测量频率稳定度,老化,相位漂移等参数
测量频率范围:0.5MHz~30MHz;100MHz±10MHz
频率稳定度:<2E-14(典型值:1.2E-14)
多通道:标配为4通道,可扩展为16通道(包含参考输入)
被测信号与参考信号无需同频
每个通道独立控制,均可测量任意频率值
取样时间:1ms~1000s
配套上位机,测量结果实时显示并存储
产品特性  | 规格名称  | 指标参数  | 备注  | 
测量指标  | 参考输入  | 0.5MHz~30MHz 90MHz~110MHz  | 信号阻抗:50Ω 信号波形:正弦波/方波均支持  | 
参考路数  | 1路  | ||
被测频率  | 0.5MHz~30MHz 90MHz~110MHz  | ||
被测路数  | 4路/8路/16路  | ||
稳定度  | 常规款:<5E-14@1s  | ||
专业款:<2E-14@1s  | |||
比相精度  | <100fs(闸门时间1s)  | ||
取样时间  | 1ms,10ms,100ms,1s,10s,100s,1000s  | ||
功率测量分辨率  | 0.1dB  | ||
测量配置方式  | 输入频率自动识别  | ||
电源电压  | 供电电压  | 220VAC 50Hz  | |
功耗  | 机箱:≤100.0W  | ||
电源接口  | 国际电源插头  | ||
环境温度  | 工作温度  | -20ºC~+50ºC  | |
储存温度  | -40ºC~+85ºC  | ||
重量尺寸  | 重量  | <15kg(整机)  | |
尺寸  | 1U/4通道、2U/8通道、2U/16通道  | ||
STT  | -  | PC  | J2  | -  | 08  | C  | 
①  | ②  | ③  | 
①外观选项:J2为2U机箱
②被测通道数量:4/8/16路
③性能指标:C(常规款)、P(专业款)

厂家联系方式:
公司总部地址:四川省成都市西芯大道5号汇都总部园一期6栋501
北京办事处:北京市海淀区花园街道市政投资商务楼305
武汉办事处:武汉市洪山区邮科院路88号烽火创新谷1号楼 5楼
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物资采购
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