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电科思仪发布3674QB与3673系列矢网,145GHz同轴覆盖
- 分类:新品发布
- 作者:电科思仪
- 来源:电科思仪
- 发布时间:2026-10-27 19:34
- 访问量:21
电科思仪发布3674QB与3673系列矢网,145GHz同轴覆盖
Onetest仪器资源库 · 新品速递
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10月26日,电科思仪举行了主题为“应时代之需,为高速智联而生”的新产品发布会,正式发布3674QB 145GHz同轴矢量网络分析仪、3673系列矢量网络分析仪,并现场展出了面向行业的PCB测试解决方案。新产品及解决方案分别面向448G前沿研发、224G产线批量测试和PCB信号完整性测试,构成从实验室研发验证到产线批量测试的完整测试链条。

AI算力浪潮推动高速互联从224G向448G演进,高速线缆、光模块、光电芯片、高速PCB成为产业关注焦点。信号传输速率不断抬升,对链路品质提出严苛要求:阻抗不连续、介质损耗、近端/远端串扰等非理想效应,极易造成信号畸变、传输误码,信号完整性测试因此成为高速链路设计、调试与验收的必备手段。与此同时,高端矢量网络分析仪长期被海外厂商占据,国产高端测试仪器的自主突破成为产业链亟待攻克的共同命题。
作为国内测试测量领域的国家队,电科思仪拥有超过30年矢量网络分析仪研发积淀,已形成高端、中档、经济型、模块化四大产品系列。本次发布的新品,是公司面向AI高速互联测试需求的最新成果。

013674QB:10MHz~145GHz同轴连续覆盖,支撑448G跨代演进
3674QB是本次发布的高端旗舰产品,面向448G高速互联研发测试,实现10MHz~145GHz同轴一体化连续覆盖。448G PAM4 串行信号的奈奎斯特带宽超过112GHz,同时更高频段的谐振尖峰、阻抗不连续点和串扰频点需要更高频段覆盖。145GHz连续覆盖尽量去补上了这段余量,一台设备即可完成光电芯片接口、PCB高速走线、高速铜缆组件等全频段S参数测试。
性能方面,3674QB在145GHz毫米波频段实现105dB系统动态范围,全频段最优系统动态范围达到135dB;为满足用户更大功率动态的器件增益压缩等非线性指标测试,功率扫描范围典型指标实现了-50dBm至0dBm覆盖,145GHz频点实际测试覆盖-60dBm至+2dBm。产品配套加固型0.8mm同轴接头、0.8mm同轴校准件、稳幅稳相电缆、宽带探针和精密转接器,通过主机硬件、测试附件与校准算法深度协同,改善频段扩展测试误差,保障毫米波测量具备优异的准确性与重复性。

3674QB产品图
023673系列:8款型号覆盖100kHz~67GHz,面向224G产线批量测试
3673系列是面向AI高速互联产线批量测试需求打造的系列化矢量网络分析产品,共包含8款型号,覆盖67GHz频段。该系列最高实现160dB超大动态范围,较上代产品提升15dB;功率输出范围典型值-60dBm~+20dBm,最优可达-80dBm~+23dBm,搭配程控步进衰减器可扩展至-120dBm~+20dBm;迹线噪声低至0.0007dB rms。
功能方面,3673系列支持眼图分析、增益压缩、程控步进衰减器等丰富功能与选件,单台仪器可覆盖无源器件、有源放大器、高速互连通道等多种测试场景。该系列采用高性能DDS直接数字频率合成架构,扫描速度提升高达4倍,面向224G产线大批量测试,同等时间可完成更多测试,摊薄单样测试工时成本,减少仪器占用,助力用户产线降本增效。

3673系列产品图
03PCB测试解决方案:覆盖插损与阻抗,服务从研发到量产
PCB测试解决方案,覆盖插损测试与阻抗测试,最高频率可至145GHz。插损手动测试支持Delta-L 4.0、Dk/Df及表面粗糙度提取,支持PCB载板探针台测试。阻抗手动测试支持实时阻抗数据测试,阻抗偏差控制在±1%以内。阻抗自动测试实现2.4秒扎针速度,双组探头支持单端与差分同步测试;微牛级力度调控,无痕率90%以上;微米级精准定位,适配HDI板精密测试,贯通PCB行业研发到量产,助力产业性能持续优化。



PCB测试解决方案
从3674QB支撑448G前沿研发,到3673系列服务224G产线批量测试,再到PCB测试解决方案覆盖插损与阻抗,新产品助力用户构建从研发验证到批量生产的测试能力。发布会后,系列新产品将于10月27日至29日在2026电子半导体产业创新发展大会暨国际电子电路(大湾区)展览会(CPCA Show Plus 2026)展出,观众可近距离观摩样机并与研发工程师交流。

应时代之需,为高速智联而生。电科思仪将持续深耕测试测量领域,以自主创新的高端仪器,为AI高速互联、新一代通信产业提供稳定、精准、高效的测试保障。
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