ONETEST 欢迎您

厂商登录 | 入驻

登录 | 注册 购物车 微信公众号
仪器资源库

严选商城

搜索

AI问答与智能搜索
二维码
请完成安全验证
产品库 严选商城

    光无源器件测试系统/WDM/AWG/Coupler 自动测试

    面向 WDM/CWDM/DWDM/AWG、Coupler、Isolator、Circulator 等光无源器件的自动化扫描与综合测试系统，含可调光源/宽带光源扫描、光谱分析、PDL 测试与产线批量检测。

     

    收录超过 10个产品、超过 1个厂家

    Santec扫描测试系统 1260至1640nm WDM/AWG/PLC|光泰通信
    Santec扫描测试系统 1260至1640nm WDM/AWG/PLC|光泰通信
    Santec 扫描测试系统由 santec 可调谐光源、santec 偏振控制器与 santec 功率计组成，工作波长 1260 至 1640nm。算法基于 santec 官方算法二次开发，实现多工位测试、数据分析与测报生成等功能。支持 WDM、AWG、PLC、Z-Block 等不同类型光学产品的测试，插损不确定度 ±0.1dB（连接头测试），扫描时间 10s，测试指标覆盖 IL、RIPPLE、PDL、ADJ、NADJ、CWL、BW、TDL、CROSSTALK。


    厂家：光泰通信|深圳光泰通信设备有限公司
    产地：中国 深圳
    CWDM一拖四扫描测试系统 1260至1620nm OSW扫描|光泰通信
    CWDM一拖四扫描测试系统 1260至1620nm OSW扫描|光泰通信
    CWDM 一拖四扫描测试系统工作波长 1260 至 1620nm，采用宽带光源与光谱分析仪四工位分时复用，兼容 CWDM 器件与模块扫描测试，支持高低温测试与升降温自动延时控制。插损不确定度 ±0.05dB（光纤熔接测试）／±0.1dB（连接头测试），单通道扫描时间 6 至 8s（AQ6370，1250 至 1650nm，步距 0.1nm）。可自动计算 ITU IL、Min/Max IL、Ripple、TDL、Isolation及不同 dB 条件下的中心波长与带宽，兼容混合 EXP/UPG/Coupler/Monitor 通道的复杂 WDM 模块，数据经 SQL Server 海量保存并自动生成出货报表。


    厂家：光泰通信|深圳光泰通信设备有限公司
    产地：中国 深圳
    Coupler综合测试系统 1260至1620nm 一拖四共享|光泰通信
    Coupler综合测试系统 1260至1620nm 一拖四共享|光泰通信
    Coupler 综合测试系统工作波长 1260 至 1620nm，一次接线即可同时进行全带宽扫描测试与单点 IL、PDL、RL、DIR 测试，支持高低温测试。一拖四共享宽带光源与 OSA 光谱分析仪，节约硬件成本。兼容 1×2、2×2、1×4 Coupler 产品与 WDM 器件，自动测试并计算 IL、WDL、PDL、RL、DIR、UL、TDL 等参数；插损不确定度 ±0.05dB（光纤熔接测试）／±0.1dB（连接头测试），数据经 SQL Server 海量保存并自动生成出货报表。


    厂家：光泰通信|深圳光泰通信设备有限公司
    产地：中国 深圳
    CWDM4/LWDM扫描测试系统 1260至1360nm 多工位并行|光泰通信
    CWDM4/LWDM扫描测试系统 1260至1360nm 多工位并行|光泰通信
    CWDM4/LWDM 扫描测试系统工作波长 1260 至 1360nm，支持 Bar 条测试并与自动化耦合设备握手，耦合对光完成后自动进行扫描测试。可测 CWDM4（MUX/DEMUX）、100G LAN-WDM 器件的全带宽与 PDL，插损不确定度 ±0.1dB（连接头测试）。支持多工位对可调光源实时并行共享扫描，工位互不干扰、无需排队等待，自动计算 ITU IL、Min IL、Max IL、Ripple、PDL、通道带宽与中心波长、Isolation、Crosstalk 等参数并自动判定结果。


    厂家：光泰通信|深圳光泰通信设备有限公司
    产地：中国 深圳
    WDM/FBT综合测试系统 1260至1620nm 四工位复用|光泰通信
    WDM/FBT综合测试系统 1260至1620nm 四工位复用|光泰通信
    WDM/FBT 综合测试系统工作波长 1260 至 1620nm，兼容扫描与点测 WDM 器件及 1×2、2×2 Coupler。宽带光源与光谱分析仪四工位分时复用，一次接线即可执行 OSA 扫描测试与单点 IL、PDL、INRL、OUTRL、DIR 等参数测试。插损不确定度 ±0.05dB（光纤熔接测试）／±0.1dB（连接头测试），PDL 不确定度 ±0.03dB，单次扫描时间 6 至 8s。WDM 产品可计算 IL、RIP、ADJ、NADJ、CWL、DCWL，FBT 产品可计算 IL_Min、IL_Max、WDL 等参数，自动判定结果并批量生成出货报表。


    厂家：光泰通信|深圳光泰通信设备有限公司
    产地：中国 深圳
    DWDM/AWG并行扫描一拖四测试系统 1260至1620nm|光泰通信
    DWDM/AWG并行扫描一拖四测试系统 1260至1620nm|光泰通信
    DWDM/AWG 并行扫描一拖四测试系统工作波长 1260 至 1620nm，支持 DWDM/AWG 模块（器件）与 100G LAN-WDM 器件的扫描与 PDL 测试。支持多工位对可调光源实时并行共享扫描，工位之间互不干扰、无需排队等待。插损（IL）不确定度 ±0.05dB（光纤熔接测试）／±0.1dB（连接头测试），PDL 不确定度 ±0.03dB，单通道扫描时间 3s、单点 PDL 纯测时间 1s，自动计算 ITU IL、Min/Max IL、IL uniformity、Ripple、PDL、CWL、Bandwidth、Isolation、Crosstalk 等参数并自动判定结果。


    厂家：光泰通信|深圳光泰通信设备有限公司
    产地：中国 深圳
    WDM综合测试系统 1260至1620nm CWDM/DWDM|光泰通信
    WDM综合测试系统 1260至1620nm CWDM/DWDM|光泰通信
    WDM 综合测试系统工作波长 1260 至 1620nm，综合测试主机可同时兼容 CWDM、DWDM 等产品测试。宽带光源与光谱分析仪四工位分时复用，一次接线即可执行 OSA 扫描测试（可调光源扫描）与单点 IL、PDL、INRL、OUTRL、DIR 等参数测试。插损不确定度 ±0.05dB（焊接测试）／±0.1dB（连接头测试），PDL 不确定度 ±0.03dB，单次扫描时间 6 至 8s（AQ6370D，步距 0.1nm）。WDM 产品可计算 IL、RIP、ADJ、NADJ、CWL、DCWL，FBT 产品可计算 IL_Min、IL_Max、WDL 等参数。


    厂家：光泰通信|深圳光泰通信设备有限公司
    产地：中国 深圳
    DWDM并行扫描一拖四测试系统 1260至1620nm|光泰通信
    DWDM并行扫描一拖四测试系统 1260至1620nm|光泰通信
    DWDM 并行扫描一拖四测试系统工作波长 1260 至 1620nm，支持 DWDM/AWG 模块（器件）与 100G LAN-WDM 器件的扫描与 PDL 测试。支持多工位对可调光源实时并行共享扫描，工位互不干扰。插损不确定度 ±0.05dB（光纤熔接测试）／±0.1dB（连接头测试），单通道扫描时间 6 至 10s、单点 PDL 纯测时间 3 至 5s，自动计算 ITU IL、Min/Max IL、IL uniformity、Ripple、PDL、中心波长偏移量、Bandwidth、Isolation、Crosstalk 等参数，并自动判定与生成出货报表。


    厂家：光泰通信|深圳光泰通信设备有限公司
    产地：中国 深圳
    Isolator、Circulator自动测试系统 1260至1620nm|光泰通信
    Isolator、Circulator自动测试系统 1260至1620nm|光泰通信
    Isolator、Circulator 自动测试系统工作波长 1260 至 1620nm，自动测试并计算 IL、PDL、RLin、RLout、ISO、CT、WDL、TDL 等参数。Circulator 兼容器件、模块与机箱扫描测试，支持高低温测试与升降温自动延时控制；Isolator 支持同时测试 4 个器件，利用高低温等待时间提高产能。插损不确定度 ±0.05dB（光纤熔接测试）／±0.1dB（连接头测试），PDL 不确定度 ±0.03dB，单通道扫描时间 15s，自动判定产品等级并生成出货报表。


    厂家：光泰通信|深圳光泰通信设备有限公司
    产地：中国 深圳
    无源产品综合测试系统 1260至1620nm 可定制|光泰通信
    无源产品综合测试系统 1260至1620nm 可定制|光泰通信
    无源产品综合测试系统工作波长 1260 至 1620nm，支持定制开发 Coupler、WDM、Isolator、Circulator 等无源产品综合测试系统，兼容扫描测试与点光源测试，支持可调光源、光谱分析仪等设备的多工位共享。一次接线即可执行扫描测试 IL、Rip、ISO以及单点 IL、PDL、INRL、OUTRL、DIR 等参数。插损（IL）不确定度 ±0.05dB（光纤熔接测试）／±0.1dB（连接头测试），PDL 不确定度 ±0.03dB，单通道扫描时间 5s、单点 PDL 纯测时间 1s，自动判定结果并批量生成出货报表。


    厂家：光泰通信|深圳光泰通信设备有限公司
    产地：中国 深圳
    共 10 条

    ONETEST仪器资源库

    合作与收录

    联系电话：+86-755-23033660

    电子邮箱：info@onetest.cn

    Onetest仪器资源库

    公众号

    Onetest仪器资源库

    视频号

    Onetest仪器资源库

    bilibili

    Onetest仪器资源库

    小助手

    © 2026 Onetest仪器资源库 All Rights Reserved   粤ICP备17028186号-2      粤公网安备44030902003758

    AI问答