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应用于芯片、器件、模块/组件在-55℃~+125℃高低温环境内的自动化测试、分选;实现高低温实验箱内循环预温、自动取放料、自动测试、自动分选、数据分析等功能,保证产品测试的可靠性和连续性。专利高低温视觉系统,高低温环境下实时对器件进行识别、定位、OCR识别等;智能的高低温运动控制算法,支持Socket快换;快速温变率≥5℃/min(可选配温变率更高或更低的温箱)。
适用于裸片、载片、堆叠芯片等单片类产品提供-60℃~200℃批量高低温自动化探针测试;可实现全温范围内的自动上下料功能,支持膜盒、华夫盒、扩金环等多种来料选配项;Pad点三维精确测量、多探针智能校正对位、自动测试与自动分选等功能;双Chuck盘并行测试,提升测试效率;独家高低温换盘及保压设计,有效解决低温下结霜问题。

高低温测试分选机|云绎智创 (在产)

  • 适用于芯片、器件、模块/组件在——55℃~+125℃高低温环境内循环预温和自动测试;

  • 专利技术高低温视觉系统,高低温环境下实时对器件进行识别、定位、OCR识别等;

  • 测试挑选过程无需开门,无温度波动、结霜等问题;

  • 自动进行高低温测试切换,无须人工干预;

  • 双工作头交替取放料,提升测试效率。


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高低温测试分选机


产品详情

  • 适用于芯片、器件、模块/组件在——55℃~+125℃高低温环境内循环预温和自动测试;

  • 专利技术高低温视觉系统,高低温环境下实时对器件进行识别、定位、OCR识别等;

  • 测试挑选过程无需开门,无温度波动、结霜等问题;

  • 自动进行高低温测试切换,无须人工干预;

  • 双工作头交替取放料,提升测试效率。





 

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