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    RFID-Easytest 读写器性能与协议测试系统|中科国技 (在产)

    参考价格 ：

    厂家：中科国技|北京中科国技信息系统有限公司 （收录14个产品）

    产地：中国

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    北京中科国技信息系统有限公司 · 无线通信测试仪

    读写器测试系统RFID-Easytest

    RFID 读写器性能与协议测试系统
    ISO 18000-6C
    支持标准
    GB/T 29768
    国标支持
    GJB 7377.1
    军标支持
    单仪表式
    测试形态
    产品定位

    RFID-Easytest 读写器测试系统覆盖读写器性能测试与射频协议测试两部分需求。性能测试可完成读写器有效辐射功率与接收灵敏度测量；协议测试可对读写器前向/反向链路信号进行完整解调与分析，用于定位协议交互中的问题。

    系统支持直连法测试与空口辐射测试，可监控读写器与标签之间的通信过程；单仪表式设计使测试操作更便捷，能够根据信号强度自动设置触发电平，完整捕获通讯信号。

    核心参数
    · 性能研发测试参数：读写器有效辐射功率、读写器接收灵敏度
    · 性能测试特点：多功能射频输出端口、图形化用户界面、支持直连法测试及空口辐射测试、支持监控读写器与标签之间的通信
    · 协议分析项：Parameters（指令参数数据）、BurstInfo（Burst 信息数据）、DemodInfo（Burst 解调数据）、RawData（Burst 原始数据）、CWInfo（载波信息）
    · 协议测试特点：单仪表式测试、根据信号强度自动设置触发电平、完整分析信号特征、保存 IQ 原始数据
    · 支持标准：ISO 18000-6C、GB/T 29768、GJB 7377.1
    产品特点
    · 性能研发测试
    – 测量读写器有效辐射功率与接收灵敏度
    – 多功能射频输出端口，图形化用户界面
    – 支持直连法测试与空口辐射测试
    – 支持监控读写器与标签之间的通信过程
    · 射频协议研发测试
    – Parameters：指令参数数据，主要解析信号指令信息
    – BurstInfo：Burst 信息数据，判断 Burst 指令的起止时间与长度
    – DemodInfo：Burst 解调数据，解调前向/反向 Burst 的调制深度、调制方式、上/下过冲、PW 时间、反向速率、占空比等信息
    – RawData：Burst 原始数据，解调前向/反向 Burst 的数据长度、编码信息、前导码信息与长度
    – CWInfo：载波信息，分析读写器载波上/下电信息
    · 易用性
    – 单仪表式测试，测试便捷快速
    – 根据信号强度自动设置触发电平，100% 捕获通讯信号，无需频谱仪专家操作
    – 完整分析信号特征，便于问题快速定位；保存 IQ 原始数据，方便数据对比与共享
    资源下载
    · 本页仅列出核心参数，完整技术指标请见本页「详细指标」标签页。
    北京中科国技信息系统有限公司 · onetest 仪器资源库
    本文由 onetest 仪器资源库依据厂商公开资料整理，参数以厂商正式资料为准。

     

     

    北京中科国技信息系统有限公司 · 无线通信测试仪

    读写器测试系统RFID-Easytest · 详细指标

    RFID 读写器性能与协议测试系统
    产品简介

    RFID-Easytest 读写器测试系统覆盖读写器性能测试与射频协议测试两部分需求。性能测试可完成读写器有效辐射功率与接收灵敏度测量；协议测试可对读写器前向/反向链路信号进行完整解调与分析，用于定位协议交互中的问题。

    系统支持直连法测试与空口辐射测试，可监控读写器与标签之间的通信过程；单仪表式设计使测试操作更便捷，能够根据信号强度自动设置触发电平，完整捕获通讯信号。

    完整技术指标
    · 性能研发测试参数：读写器有效辐射功率、读写器接收灵敏度
    · 性能测试特点：多功能射频输出端口、图形化用户界面、支持直连法测试及空口辐射测试、支持监控读写器与标签之间的通信
    · 协议分析项：Parameters（指令参数数据）、BurstInfo（Burst 信息数据）、DemodInfo（Burst 解调数据）、RawData（Burst 原始数据）、CWInfo（载波信息）
    · 协议测试特点：单仪表式测试、根据信号强度自动设置触发电平、完整分析信号特征、保存 IQ 原始数据
    · 支持标准：ISO 18000-6C、GB/T 29768、GJB 7377.1
    性能研发测试
    – 测量读写器有效辐射功率与接收灵敏度
    – 多功能射频输出端口，图形化用户界面
    – 支持直连法测试与空口辐射测试
    – 支持监控读写器与标签之间的通信过程
    射频协议研发测试
    – Parameters：指令参数数据，主要解析信号指令信息
    – BurstInfo：Burst 信息数据，判断 Burst 指令的起止时间与长度
    – DemodInfo：Burst 解调数据，解调前向/反向 Burst 的调制深度、调制方式、上/下过冲、PW 时间、反向速率、占空比等信息
    – RawData：Burst 原始数据，解调前向/反向 Burst 的数据长度、编码信息、前导码信息与长度
    – CWInfo：载波信息，分析读写器载波上/下电信息
    易用性
    – 单仪表式测试，测试便捷快速
    – 根据信号强度自动设置触发电平，100% 捕获通讯信号，无需频谱仪专家操作
    – 完整分析信号特征，便于问题快速定位；保存 IQ 原始数据，方便数据对比与共享
    北京中科国技信息系统有限公司 · onetest 仪器资源库
    本文由 onetest 仪器资源库依据厂商公开资料整理，参数以厂商正式资料为准。

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    厂家联系方式

    公司：北京中科国技信息系统有限公司

    电话：010-59799882

    传真：010-59799882

    电邮：sales@hwa-tech.com

    总部：北京市海淀区蓝靛厂东路2号院金源时代商务中心2号楼B座10B

    上海：上海市浦东新区金吉路778号浦发江程广场1幢825室

    西安（研发中心）：陕西省西安市未央区大明宫街道永华路与永庆路交叉口百寰国际6楼6002


     

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