支持USB 3.0 5Gbps PHY电气性能测试,包括
TD1.1 LFPS Tx测试;
TD1.2 LFPS Rx测试;
TD1.3 Tx眼图测试;
TD1.4 Tx SSC测试;
TD1.5 Rx抖动容限测试;
GCPW传输线设计,90+/-9欧姆阻抗;
保留USB 2.0接口;
配套7.5dB@2.5GHz USB线缆,符合USB 3.0规范;
Device夹具使用DC-005接口供电并预留VBUS测试点;
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USB 3.0 A口测试夹具整套,支持superspeed 5Gbps电气性能测试 |海凌克电子 (在产)
特性:
支持USB 3.0 5Gbps PHY电气性能测试,包括
TD1.1 LFPS Tx测试;
TD1.2 LFPS Rx测试;
TD1.3 Tx眼图测试;
TD1.4 Tx SSC测试;
TD1.5 Rx抖动容限测试;
GCPW传输线设计,90+/-9欧姆阻抗;
保留USB 2.0接口;
配套7.5dB@2.5GHz USB线缆,符合USB 3.0规范;
Device夹具使用DC-005接口供电并预留VBUS测试点;
应用领域:
USB 3.0 Host和Device 5Gbps电气性能测试;
维保:
夹具非人为损坏质保一年;
IO连接器及同轴连接器属易耗品,不在维保范围;
厂家联系方式:
电话: +86 186 8883 5304
邮箱: sales@hilinkelec.com
地址: 陕西省西安市雁塔区锦业一路56号研祥城市广场广场B座2030室
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