SI性能深度优化,Mated Plug和Receptacle夹具差模回损SDD11小于-6dB@DC-5GHz;
GCPW传输线设计,阻抗一致性优异,45ohm+/-4.5ohm;
高性能3.5mm连接器,可兼容2.92mm,3.5mm和SMA测试线缆;
扇形布线,极低的插入损耗,各通道skew差异小于+/-1ps;
尺寸:54x38mm,1.6mm板厚,设计简约,坚固耐用;
Vbus使用DC-005接口引出,方便对Device供电;
USB2.0信号同时引出至3.5mm连接器;
ONETEST 欢迎您
USB 3.1 A口母头测试夹具,支持SuperSpeed 10Gbps电气性能测试 |海凌克电子 (在产)
特性:
SI性能深度优化,Mated Plug和Receptacle夹具差模回损SDD11小于-6dB@DC-5GHz;
GCPW传输线设计,阻抗一致性优异,45ohm+/-4.5ohm;
高性能3.5mm连接器,可兼容2.92mm,3.5mm和SMA测试线缆;
扇形布线,极低的插入损耗,各通道skew差异小于+/-1ps;
尺寸:54x38mm,1.6mm板厚,设计简约,坚固耐用;
Vbus使用DC-005接口引出,方便对Device供电;
USB2.0信号同时引出至3.5mm连接器;
应用领域:
USB 3.1 10Gbps device测试;
USB 3.1 10Gbps线缆测试;
维保:
夹具非人为损坏质保一年;
IO连接器及同轴连接器属易耗品,不在维保范围;
厂家联系方式:
电话: +86 186 8883 5304
邮箱: sales@hilinkelec.com
地址: 陕西省西安市雁塔区锦业一路56号研祥城市广场广场B座2030室
0条提问
X
提问
X
回答
发表口碑