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DMW-6/8/12手动双面晶圆探针台适用于需要正面和背面同时探针连接的双面晶圆测试；
可应用于光电器件测试、PCB/IC测试、射频测试、高压大电流测试等。
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在SW半自动晶圆探针台基础上增加晶圆料仓，以实现晶圆片的批量自动化探针测试；可应用于I-V/C-V、射频/毫米波测试、功率测试等；支持手动、半自动、全自动多种操作模式；精密光学系统配合Auto XY、Auto Z软件功能，实现探针自动对位；可拓展性设计，支持高温探针测试（选配）。
适用于晶圆测试、光电器件测试、IC测试、射频测试、高压大电流的手动探针测试。高品质显微镜搭配高分辨率CCD系统，可清晰观察扎痕情况，提高扎针的准确性和扎针效率；针座磁吸固定可根据测试晶圆的不同进行适时调节；台面支持一键升降，使操作流程简单快捷；Chuck盘可以完全拉出台面，方便晶圆快速取放。
DMW-6/8/12 手动双面晶圆探针台|云绎智创 (在产)
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手动双面晶圆探针台
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