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适用于裸片、载片、堆叠芯片等单片类产品的批量自动探针测试,同时也可应用于QFN、BGA等表贴封装器件批量自动探针测试;具备单片自动上下料功能,支持膜盒、华夫盒、扩晶环等多种来料选配项;Pad三维精确测量、探针智能补偿对位、Softtouch软接触保证扎针的准确性和稳定性;双Chuck盘并行测试,提升测试效率;无人值守自动测试分选,降低使用成本。
在SW半自动晶圆探针台基础上增加晶圆料仓,以实现晶圆片的批量自动化探针测试;可应用于I-V/C-V、射频/毫米波测试、功率测试等;支持手动、半自动、全自动多种操作模式;精密光学系统配合Auto XY、Auto Z软件功能,实现探针自动对位;可拓展性设计,支持高温探针测试(选配)。

KGD芯片测试分选机|云绎智创 (在产)

  • 主要应用于功率芯片Die级测试和分选,以实现对裸芯片性能指标和外观的筛选,提高芯片封装的成品率;

  • 支持2~4个工位并行测试;

  • 支持Socket和Probe测试连接方式;

  • 支持常温和高温测试,温度范围:常温~200℃;

  • 功率芯片Socket采用氮气高压密闭设计,提供高压保护功能;

  • 支持多种来料和收料方式:蓝膜、料盒、编带等。


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KGD芯片测试分选机

产品详情

  • 主要应用于功率芯片Die级测试和分选,以实现对裸芯片性能指标和外观的筛选,提高芯片封装的成品率;

  • 支持2~4个工位并行测试;

  • 支持Socket和Probe测试连接方式;

  • 支持常温和高温测试,温度范围:常温~200℃;

  • 功率芯片Socket采用氮气高压密闭设计,提供高压保护功能;

  • 支持多种来料和收料方式:蓝膜、料盒、编带等。


 

 

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