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ORF5060 是利利普（OWON）的近场探头套件，1MHz至6GHz。
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近场探头 示波器探头。SRF5030T 近场探头套装包含了磁场（H）和电场（E）探头，可用于 EMC 预兼容测试，定位电子产品中的辐射源。近场探头类似于一个宽频的天线，从元器件， PCB 板，屏蔽盖缝隙等地方检测辐射信号。用尺寸更小的探头可以使定位辐射区域的精度更高。其他应用包括：冲击抗扰测试， RF 信号链中的故障排除，调制器和振荡器的非侵入性测试，配合低噪声放大器测频率，相位，频谱分量等。
ORF5060 1MHz至6GHz近场探头套件 配合OWON全系频谱分析仪|利利普 (在产)
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利利普 · OWON
ORF5060 近场探头套件
1MHz至6GHz · 配合OWON全系频谱分析仪
产品简介
• ORF5060近场探头用于配合OWON全系列频谱分析仪进行EMI电磁干扰测量，可用来检测元器件表面的磁场强度、磁场耦合通道以及电子模块附近的磁场环境，从而快速定位和分析电磁干扰源。
产品描述图
核心参数
• 频率范围：1MHz-6GHz
• 端口形式：SMA型
• 转接器：N-SMA
• 射频线缆：SMA-J-SMA-J-1000mm半柔线缆
• 端口及转接器阻抗：50Ω
• 工作温度：0℃-50℃
• 存储温度：-20℃-70℃
资源下载
• ORF5060 详细指标见本页「详细指标」标签页。
注：以上内容与指标均取自利利普（OWON）官网该产品详情页，未标注口径的为厂家公布值。
利利普 OWON · onetest 仪器资源库
利利普 · OWON
ORF5060 近场探头套件 详细指标
1MHz至6GHz · 配合OWON全系频谱分析仪
产品特点
• ORF5060近场探头用于配合OWON全系列频谱分析仪进行EMI电磁干扰测量，可用来检测元器件表面的磁场强度、磁场耦合通道以及电子模块附近的磁场环境，从而快速定位和分析电磁干扰源。
详细指标
频率
• 频率范围：1MHz-6GHz
端口类型
• 端口形式：SMA型
• 转接器：N-SMA
• 射频线缆：SMA-J-SMA-J-1000mm半柔线缆
• 端口及转接器阻抗：50Ω
一般技术规格
• 工作温度：0℃-50℃
• 存储温度：-20℃-70℃
注：以上内容与指标均取自利利普（OWON）官网该产品详情页，未标注口径的为厂家公布值。
资源下载
• ORF5060 产品介绍见本页「产品介绍」标签页。
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