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为因应未来IC芯片须具备更高速度及更多脚位及更复杂功能的IC芯片，Chroma新一代VLSI测试系统3380D/3380P/3380除采用更弹性架构外，整合密度更高且功能更强大。
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为因应未来IC芯片脚位数更多、速率更高、整合功能更为复杂的发展驱势，Chroma VLSI测试系统3380D/3380P/3380除采用更弹性架构外，整合密度更高，且功能更强大。
为因应未来IC芯片脚位数更多、速率更高、整合功能更为复杂的发展驱势，Chroma以此发展方向提供新一代3380系列VLSI测试机台，包含 3380D、380P、3380机型，根据不同的脚位数或同测能力(Parallel Test)，提供需求与成本效益兼具的测试解决方案。
半导体制造为一发展迅速前进的产业。
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3380P 50/100 MHz VLSI 测试系统 50/100 Mbps|致茂电子Chroma (在产)
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系统与解决方案
致茂 Chroma
3380P VLSI 测试系统
50/100 MHz · 50/100 Mbps
产品简介
为因应未来IC芯片须具备更高速度及更多脚位及更复杂功能的IC芯片，Chroma新一代VLSI测试系统3380D/3380P/3380除采用更弹性架构外，整合密度更高且功能更强大。
3380D/3380P/3380机型为因应高同测(High Parallel Test)功能，除内建独特的4-wire功能高密度IC电源(VI source)外，更具备Any Pins to Any Site高同测功能(512 I/O pin可并行测512个测试芯片)，以因应未来IC芯片更高的测试需求。
产品功能与优势
主要特点
• 50/100 MHz测试频率
• 50/100 Mbps数据速率
• 512数字信道管脚 (最高可至576数字信道管脚)
• 并行测试可达512 sites同测数
• 32/64/128M Pattern内存
• 多样弹性VI电源
• 弹性化硬件结构 (可互换式 I/O, VI, ADDA)
• Real parallel Trim/Match功能
• 时序频率测试单位 (TFMU)
• AD/DA功能板卡(16/24 bits) (可选配)
• SCAN向量存储深度(最高2G bits/chain) (可选配)
• ALPG测试选配供内存IC用
• STDF工具支持
• 测试程序/pattern转换器 (J750, D10, V50,E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
• 人性化Window 7操作系统
• CRAFT C/C++ 程序语言
• 软件接口与3380P/3360P相同
• Direct mount治具可相容于3360P probe-card
• Cable mount治具可相容于3360D与3360P
3380P同时具备All-In-One (Only Test Head) 的小型化、低耗能化设计及非常具竞争性的机台性价比。
3380系列VLSI测试系统无论在装机、稳定度、友善使用接口、及成本效益上，长期以来皆已于中国市场获得广泛印证。
涵盖广泛的应用范围
Logic, MCU, ADDA (Mixed-signal) ; Power, LED driver, Class D ; SCAN, ALPG, Match and etc.
主要型号与技术规格
该系列共收录 1 个具体型号，以下为前 1 个（完整规格见详细指标页）。
• 3380P 叙述 VLSI 测试系统
资源下载
• 3380P 详细指标见本页「详细指标」标签页。
• 官方 PDF（型录）：3380P-SC.pdf
注：以上内容与指标均取自致茂电子（Chroma）官网该产品详情页与官方产品资料，未标注口径的为厂家公布值。
致茂电子（Chroma ATE Inc.） · onetest 仪器资源库
致茂 Chroma
3380P 详细指标
50/100 MHz · 50/100 Mbps
详细指标
以下规格取自致茂 Chroma 官网该产品详情页型号表，共 1 个具体型号。
3380P
• 叙述：VLSI 测试系统
资源下载
• 3380P 产品介绍见本页「产品介绍」标签页。
• 官方 PDF（型录）：3380P-SC.pdf
注：以上内容与指标均取自致茂电子（Chroma）官网该产品详情页与官方产品资料，未标注口径的为厂家公布值。
致茂电子（Chroma ATE Inc.） · onetest 仪器资源库
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