The Standard SD Express 存储卡测试适配器支持针对 SD8.0 和 SD7.1 的 PCIe® 16 GT/s (Gen4) 和 PCIe® 8 GT/s (Gen3) 接口合规性程序测试。串扰最小，走线长度短。 Micro SD Express 存储卡测试适配器支持针对 SD7.1 的 PCIe® 8 GT/s (Gen3) 接口合规性程序测试。串扰最小，走线长度短。它们都支持 SDHC、SDXC 和 SDUC 操作模式，通过实验室标准 SSMP 测试电缆和硬金配合表面收集数据，可实现高循环计数插入和可靠性能。
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The Standard SD Express 存储卡测试适配器支持针对 SD8.0 和 SD7.1 的 PCIe® 16 GT/s (Gen4) 和 PCIe® 8 GT/s (Gen3) 接口合规性程序测试。串扰最小，走线长度短。 Micro SD Express 存储卡测试适配器支持针对 SD7.1 的 PCIe® 8 GT/s (Gen3) 接口合规性程序测试。串扰最小，走线长度短。它们都支持 SDHC、SDXC 和 SDUC 操作模式，通过实验室标准 SSMP 测试电缆和硬金配合表面收集数据，可实现高循环计数插入和可靠性能。
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