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The Standard SD Express 存储卡测试适配器支持针对 SD8.0 和 SD7.1 的 PCIe® 16 GT/s (Gen4) 和 PCIe® 8 GT/s (Gen3) 接口合规性程序测试。串扰最小,走线长度短。 Micro SD Express 存储卡测试适配器支持针对 SD7.1 的 PCIe® 8 GT/s (Gen3) 接口合规性程序测试。串扰最小,走线长度短。它们都支持 SDHC、SDXC 和 SDUC 操作模式,通过实验室标准 SSMP 测试电缆和硬金配合表面收集数据,可实现高循环计数插入和可靠性能。
USB-IF 批准的 USB3.1™ 一致性测试夹具。 TPA 可用于测试 USB-Type-C 主机和设备

同厂商产品

支持HDMI 2.0协议;板载GPPO同轴接口,标配10cmGPPO到SMA相位匹配电缆;通道skew差异小于+/-2ps;所有低速信号均引出至2mm连接器;
GCPW传输线设计,阻抗一致性优异,90ohm+/-9ohm;高性能SMA连接器,可兼容2.92mm,3.5mm和SMA测试线缆;扇形布线,极低的插入损耗,各通道skew差异小于+/-1ps;CC1和CC2均可通过跳线帽控制,方便选择不同的Tx被测端口;Rx信号均引至另一侧Type C接口,方便连接CLB;Vbus使用DC-005接口引出,方便对Device供电;尺寸:53x36mm,1mm板厚,设计简约,便于插拔;

USB Type C母口测试夹具 、支持superspeed 5/10/20Gbps电气性能测试 |海凌克电子 (在产)

  • SI性能优化至12GHz,支持5Gbps,10Gbps和20.625Gbps等测试速率;

  • GCPW传输线设计,阻抗100+/-10欧姆;

  • 高性能2.92mm连接器,可兼容2.92mm,3.5mm和SMA测试线缆;

  • Tx&Rx各通道等长设计,skew小于+/-1ps;

  • 尺寸:100x50mm,1.6mm板厚,设计简约,坚固耐用;

  • 所有低速信号均引出至2.54mm插针;    

  • 2x thru去嵌校准线;


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特性:

  • SI性能优化至12GHz,支持5Gbps,10Gbps和20.625Gbps等测试速率;

  • GCPW传输线设计,阻抗100+/-10欧姆;

  • 高性能2.92mm连接器,可兼容2.92mm,3.5mm和SMA测试线缆;

  • Tx&Rx各通道等长设计,skew小于+/-1ps;

  • 尺寸:100x50mm,1.6mm板厚,设计简约,坚固耐用;

  • 所有低速信号均引出至2.54mm插针;    

  • 2x thru去嵌校准线;



应用领域:

  • USB 3.0、3.1、3.2和4.0线缆测试;

  • TBT3线缆测试;

  • USB 3.0、3.1、3.2和4.0 host远端发送性能测试;


维保:

  • 夹具非人为损坏质保一年;

  • IO连接器及同轴连接器属易耗品,不在维保范围;

USB Type C母口测试夹具

USB Type C母口测试夹具

 

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厂家联系方式:


电话: +86 186 8883 5304
邮箱: sales@hilinkelec.com
地址: 陕西省西安市雁塔区锦业一路56号研祥城市广场广场B座2030室





 

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