可同时测量频率稳定度,老化,相位漂移等参数
测量频率范围:0.5MHz~30MHz;100MHz±10MHz
频率稳定度:<2E-14(典型值:1.2E-14)
多通道:标配为4通道,可扩展为16通道(包含参考输入)
被测信号与参考信号无需同频
每个通道独立控制,均可测量任意频率值
取样时间:1ms~1000s
配套上位机,测量结果实时显示并存储
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可同时测量频率稳定度,老化,相位漂移等参数
测量频率范围:0.5MHz~30MHz;100MHz±10MHz
频率稳定度:<2E-14(典型值:1.2E-14)
多通道:标配为4通道,可扩展为16通道(包含参考输入)
被测信号与参考信号无需同频
每个通道独立控制,均可测量任意频率值
取样时间:1ms~1000s
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STT-PC系列多通道比相仪是针对信号的稳定性研制的专用测试设备。该设备配套上位机软件,对频率准确度、频率稳定度、频率漂移、相位漂移等信号特征进行测试。可取代传统比相仪和频标对比器。支持0.5MHz~30MHz/100MHz±10MHz范围内任意频率点的测试,设备具有操作简单,测量精度高的特点。
产品特征
可同时测量频率稳定度,老化,相位漂移等参数
测量频率范围:0.5MHz~30MHz;100MHz±10MHz
频率稳定度:<2E-14(典型值:1.2E-14)
多通道:标配为4通道,可扩展为16通道(包含参考输入)
被测信号与参考信号无需同频
每个通道独立控制,均可测量任意频率值
取样时间:1ms~1000s
配套上位机,测量结果实时显示并存储
产品特性 | 规格名称 | 指标参数 | 备注 |
测量指标 | 参考输入 | 0.5MHz~30MHz 90MHz~110MHz | 信号阻抗:50Ω 信号波形:正弦波/方波均支持 |
参考路数 | 1路 | ||
被测频率 | 0.5MHz~30MHz 90MHz~110MHz | ||
被测路数 | 4路/8路/16路 | ||
稳定度 | 常规款:<5E-14@1s | ||
专业款:<2E-14@1s | |||
比相精度 | <100fs(闸门时间1s) | ||
取样时间 | 1ms,10ms,100ms,1s,10s,100s,1000s | ||
功率测量分辨率 | 0.1dB | ||
测量配置方式 | 输入频率自动识别 | ||
电源电压 | 供电电压 | 220VAC 50Hz | |
功耗 | 机箱:≤100.0W | ||
电源接口 | 国际电源插头 | ||
环境温度 | 工作温度 | -20ºC~+50ºC | |
储存温度 | -40ºC~+85ºC | ||
重量尺寸 | 重量 | <15kg(整机) | |
尺寸 | 1U/4通道、2U/8通道、2U/16通道 |
STT | - | PC | J2 | - | 08 | C |
① | ② | ③ |
①外观选项:J2为2U机箱
②被测通道数量:4/8/16路
③性能指标:C(常规款)、P(专业款)
厂家联系方式:
公司总部地址:四川省成都市西芯大道5号汇都总部园一期6栋501
北京办事处:北京市海淀区花园街道市政投资商务楼305
武汉办事处:武汉市洪山区邮科院路88号烽火创新谷1号楼 5楼
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物资采购
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