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测试频率：2.0～110.0GHz
测试范围：
介电常数 r：2.0～100.0
电损耗角正切tan：0.1～5.0
测试误差:
|r/r| 5.0%
|tan| 10.0% tan + 0.002
样品尺寸：（横向尺寸与同频段波导一致，厚度与介电参数相关）
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频率范围：2.0～7.0 GHz、7.0～18.0 GHz、18.0～40.0 GHz测试温度：室温～1600℃复介电常数测试范围：r=1～10tan=1.0×10-4～3×10-2常温测试误差：|r/r| 2.0% 当r=2～10|r| 1.8% r + 0.02 当r=1.05～2|tan| 15% tan + 810-5样品尺寸： 2.0～7.0GHz：圆片材料直径：150.0mm，厚度：3.0～10.0mm7.0～18.0 GHz：圆片材料直径：50.0mm，厚度：1.5～2.5mm
测试频率：0.05～12.0GHz测试范围：磁导率mr¢：0～1000.0磁损耗角正切tandm：0.1～2.0测试误差：室温：|Δmr¢/mr¢| £10%|Δtandμ| £10%tandm+ 0.05样品尺寸：长度25.0mm，宽度2.0mm，厚度0.8mm
2.0至110.0GHz 同轴线终端开路法（Open-Ended）测试设备|恩驰微波 (在产)
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同轴线终端开路法（Open-Ended）
测试频率：2.0～110.0GHz
测试范围：
介电常数 r：2.0～100.0
电损耗角正切tan：0.1～5.0
测试误差:
|r/r| 5.0%
|tan| 10.0% tan + 0.002
样品尺寸：（横向尺寸与同频段波导一致，厚度与介电参数相关）
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