普赛斯的探测器耦合测试仪（PSS RCML20192），用于APD、PIN-TIA(Vpd/Mon)两种类型的各种脚位顺序ROSA/BOSA器件的耦合生产与测试。本仪器自带光衰模块，可实现快速衰减，同时内置输出监视的高精度光功率计，在衰减的同时可以实时监控输出端口的光功率。且支持外置光模块接口，可外接不同波长模块，为生产ROSA/BOSA器件提供不同耦合光源需求提供便利。设备内置稳定的APD高压源、恒流源、显示模组、回损测试等功能模块。

PSS BOSA01001 BOSA综合测试系统 |普赛斯 (在产)

普赛斯采用插卡式组合方案，根据客户需求，灵活配置，解决各种结构复杂的OSA器件的测试问题。既可以实现BOSA器件的快速测试，又可以实现结构复杂的Combo PON器件的一键测试。支持不同封装的 DFB和EML TOSA器件的LIV综合测试，也支持不同速率APD或PINTIA器件的接收灵敏度，响应度，暗电流等指标的测试。模拟器件实际应用环境，并进行内部光路的隔离度和光串扰测试，真实反映器件的性能。

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厂家：普赛斯|武汉普赛斯电子股份有限公司（收录32个产品）

产地：中国

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系统与解决方案

BOSA综合测试系统
用于 Combo（GPON&XPON，GPON&XGSPON）OLT/ONU Quad OSA 测试。普赛斯采用插卡式组合方案，根据客户需求，灵活配置，解决各种结构复杂的 OSA 器件的测试问题。既可以实现 BOSA 器件的快速测试，又可以实现结构复杂的 Combo PON 器件的一键测试。支持不同封装的 DFB 和 EML TOSA 器件的 LIV 综合测试，也支持不同速率 APD 或 PIN-TIA 器件的接收灵敏度、响应度、暗电流等指标的测试。模拟器件实际应用环境，并进行内部光路的隔离度和光串扰测试，真实反映器件的性能。

应用

OSA 器件综合测试；

特点

采用插卡式组合方案，配置灵活，兼容各种 BOSA & COMBO 器件测试，设备集成度高，占用体积空间小；
支持内部串扰测试，有效检测 Filter 不良问题；
全套夹具，支持 Flex 和插针的各种类型封装；
支持不同速率的灵敏度测试，最高速率支持 25G；

规格

器件类型和测试条件可任意配置，支持 VBR、暗电流、灵敏度、饱和光功率、响应度、光隔离度、Xtalk 串扰、Ith、正向电压、背光电流、功率、暗电流、斜效率以及 Kink 点、EaPo 等参数测试。现有成熟的 2.5G、10G、25G ROSA 或 BOSA 的测试方案，以及结构复杂的 Combo PON 器件的综合测试解决方案，各方案配置型号如下：

序号	测试应用对象	型号	备注
1	2.5G BOSA 器件	PSS BOSA02501	-
2	10G BOSA 器件	PSS BOSA01001	-
3	10G ROSA 器件	PSS ROSA01001	-
4	25G ROSA 器件	PSS ROSA25001/PSS ROSA25002	不支持 / 支持回损测试
5	ComboPON 器件	PSS CPON01001	-

各测试方案都配套设计有操作简单的测试夹具，解决用户所有测试难点。

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厂家联系方式：

联系电话：027-8990 8766
售后电话：400 061 1601
地址：武汉市东湖新技术开发区光谷三路 777 号移动终端 1 号楼
Email：oversea@whprecise.com、pss@whprecise.com

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