客服
• 最⾼频率⽀持 20GHz， 更优秀的动态范围
• ⽀持板卡级联扩展多端⼝
• ⽀持 FIFO 测试队列，满⾜⾼速测试要求
• 久经考验的⻓期测试稳定性
• ⽀持⾃动端⼝延伸，夹具嵌⼊与去嵌⼊，分段扫描，脉冲模式，开关时间测量
• ⽀持线性扫频、分段扫频，⽀持多通道、多迹线测量结果分析，具备多样的 Data Format 选择；
• 多种校准⽅式：OSL，TR，ER，SLOT，TRL，UT，电⼦校准
• USB 模块、PXIe 板卡、桌⾯型三种形态
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频率范围：30MHz~9GHz扫描速度：21.0ms (201点，全双端口校准，100 kHz 中频带宽)动态范围：>112dB @ 6GHz
N2000系列 10MHz至9/20GHz 2/4/6端口 PXIe模块化矢量网络分析仪|中科四点零 (在产)
产品描述
详细指标
软件和手册|白皮书
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口碑
系统与解决方案
20GHz
最高频率
2/4/6
端口数（单板卡）
mS 级
FIFO 高速触发测试
3 种
产品形态
7 种+
校准方式（含电校）
18 款
型号可选
产品简介
N2000 系列频率支持到 20GHz，具备更大的动态范围，并提供单板卡 2、4、6 端口的产品形态，更好地应对大规模并行测试挑战。本产品具备快速、高精度的 S 参数测量能力，丰富的测量分析类型，支持机械校准件和电子校准，支持多端口级联以提供大规模并行测试能力，具备 PXIe、模块化和台式仪器 3 种形态。
在诸多用户现场，N2000 产品以实际表现证明其完全胜任大规模产线对可靠性稳定性的严苛要求。
典型参数与特性
宽频高动态
最高频率支持 20GHz，更优秀的动态范围
多端口级联
支持板卡级联扩展多端口，应对大规模并行测试
FIFO 测试队列
板载 DDR 高速缓存，mS 级高速触发连续测试，优化批量吞吐
长期稳定性
久经考验的长期测试稳定性，胜任大规模产线严苛要求
高级测量功能
自动端口延伸、夹具嵌入/去嵌入、分段扫描、脉冲模式、开关时间测量
丰富分析类型
线性/分段扫频，多通道、多迹线分析，多样 Data Format 选择
多种校准方式
OSL、TR、ER、SLOT、TRL、UT 及电子校准（RC 系列电校件）
三种产品形态
USB 模块、PXIe 板卡、桌面型，灵活适配实验室与产线
N2000 软件平台
统一控制所有级联模块，一体化配置与测量，贴合行业习惯快速上手
选型参考
型号命名规则：N2xyyZ — x=端口数（2/4/6），yy=频率（09=9GHz，20=20GHz），后缀 A=模块型 / M=板卡型（PXIe）/ D=桌面型
| 型号 | 频段 | 端口 | 形态 |
|---|---|---|---|
| N2209A / N2409A / N2609A | 10MHz~9GHz | 2 / 4 / 6 | 模块型（USB） |
| N2209M / N2409M / N2609M | 10MHz~9GHz | 2 / 4 / 6 | 板卡型（PXIe） |
| N2209D / N2409D / N2609D | 10MHz~9GHz | 2 / 4 / 6 | 桌面型 |
| N2220A / N2420A / N2620A | 10MHz~20GHz | 2 / 4 / 6 | 模块型（USB） |
| N2220M / N2420M / N2620M | 10MHz~20GHz | 2 / 4 / 6 | 板卡型（PXIe） |
| N2220D / N2420D / N2620D | 10MHz~20GHz | 2 / 4 / 6 | 桌面型 |
PXIe 测试平台配套
| 组件 | 规格 |
|---|---|
| PXIe-1011 机箱 | 4U 11 槽（9 槽可选），24 GB/s 系统带宽，8 GB/s 独立外设带宽，高带宽背板支持同步触发与高速数据传输 |
| PXIe-88C0 嵌入式控制器 | Intel i7-12700H，14 核 20 线程，保障多模块并行测试实时性 |
| RC 系列电子校准件 | RC12xx（2 端口）/ RC14xx（4 端口），频率覆盖 9GHz / 20GHz |
软件与二次开发
N2000 软件平台：界面贴合行业习惯，快速上手，统一控制级联模块
测量功能覆盖基础 S 参数、校准与夹具处理到高级测量分析全场景
支持 SCPI 与 IVI 方式编程，兼容 LabVIEW，提供 SDK/API 与 C# DEMO 代码
兼容 Keysight 及 41 所指令，已有代码可能无需改动即可平替
测试结果可保存界面截图、CSV 格式数据与测试状态
应用场景
射频滤波器、开关、低噪声功放、功率放大器及射频前端产线测试
5G 通信、卫星互联网等高频测试场景
大规模并行测试与产线自动化（配合 RFXP 系列 ATE 射频芯片测试系统）
实验室研发验证（USB 模块形态可当通用仪器使用，无需 PXIe 背板）
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