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为因应未来IC芯片脚位数更多、速率更高、整合功能更为复杂的发展驱势，Chroma以此发展方向提供新一代3380系列VLSI测试机台，包含 3380D、380P、3380机型，根据不同的脚位数或同测能力(Parallel Test)，提供需求与成本效益兼具的测试解决方案。
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为因应未来IC芯片须具备更高速度及更多脚位及更复杂功能的IC芯片，Chroma新一代VLSI测试系统3380D/3380P/3380除采用更弹性架构外，整合密度更高且功能更强大。
为因应未来IC芯片脚位数更多、速率更高、整合功能更为复杂的发展驱势，Chroma VLSI测试系统3380D/3380P/3380除采用更弹性架构外，整合密度更高，且功能更强大。
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3380 50/100MHz VLSI 测试系统 50/100 Mbps|致茂电子Chroma (在产)
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系统与解决方案
致茂 Chroma
3380 VLSI 测试系统
50/100MHz · 50/100 Mbps
产品简介
为因应未来IC芯片脚位数更多、速率更高、整合功能更为复杂的发展驱势，Chroma以此发展方向提供新一代3380系列VLSI测试机台，包含 3380D、380P、3380机型，根据不同的脚位数或同测能力(Parallel Test)，提供需求与成本效益兼具的测试解决方案。
此系列机型之一的VLSI测试系统3380，具有最高1280 I/O pins、256 VI、弹性化架构、以及完整选项功能板(ADDA/Hi-voltage DPS)等特色；可符合高同测的市场驱势，具备1024 I/O pin可同测1024个芯片的能力。除了独特的4-wire高密度IC电源(VI source)外，弹性化可调整的架构还可提供Mini&Macro LED驱动IC、CMOS影像传感器(CIS)、及3D影像测试等解决方案；以利涵盖更广泛的IC测试功能与应用范围。
产品功能与优势
主要特点
• 50/100MHz 测试频率
• 50/100 Mbps 数据速率
• 1024 I数字信道管脚 (最高1280数字信道管脚)
• 高达1024 sites 并行测试
• 32/64/128 pattern 内存
• 16M capture memory per pin
• 多样化 VI 电源
• 弹性化硬件架构 (可互换式 I/O, VI, ADDA)
• Real parallel trim/match 功能
• 时序频率测试单位 (TFMU)
• 高速时序测试单位 (HSTMU)
• 支持STDF工具
• 测试program/pattern转换器 (J750, D10, S50/100, E320, SC312,V7, TRI-6036等)
• AD/DA功能板卡 (可选配)
• SCAN向量存储深度(最高 2G bits/chain) (可选配)
• ALPG 测试功能可供内存IC用 (可选配)
• CRAFT C/C++ 程序语言
• 软件接口与3380P/3360P相同
• 人性化的Windows 7操作系统
3380 VLSI测试系统可无缝接轨3380D(256pins)与3380P(512pins)，以因应更高的产能需求。3380系列VLSI测试系统无论在装机、稳定度、友善使用接口、及成本效益上，长期以来皆已于中国市场获得广泛印证。
应用范围
主要型号与技术规格
该系列共收录 1 个具体型号，以下为前 1 个（完整规格见详细指标页）。
• 3380 叙述 VLSI 测试系统
资源下载
• 3380 详细指标见 3380 详细指标页。
• 官方 PDF（型录）：3380-SC.pdf
注：以上内容与指标均取自致茂电子（Chroma）官网该产品详情页与官方产品资料，未标注口径的为厂家公布值。
致茂电子（Chroma ATE Inc.） · onetest 仪器资源库
致茂 Chroma
3380 详细指标
50/100MHz · 50/100 Mbps
详细指标
以下规格取自致茂 Chroma 官网该产品详情页型号表，共 1 个具体型号。
3380
• 叙述：VLSI 测试系统
资源下载
• 3380 产品介绍见 3380 产品介绍页。
• 官方 PDF（型录）：3380-SC.pdf
注：以上内容与指标均取自致茂电子（Chroma）官网该产品详情页与官方产品资料，未标注口径的为厂家公布值。
致茂电子（Chroma ATE Inc.） · onetest 仪器资源库
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