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CT440 1240至1680nm 无源元器件测试仪|EXFO (在产)
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EXFO · EXFO Inc.
CT440/CT440-PDL 无源元器件测试仪
工作波长范围 1240 至 1680 · 工作波长范围 1260 至 1360 · 功率范围 - On TLS input 0 至 10
产品简介
紧凑的测试仪，用于快速、准确地鉴定无源光元器件
核心参数
• 工作波长范围（nm） - F 型（Full-band IL）：1240 至 1680
• 工作波长范围（nm） - O 型（O-band PM IL）：1260 至 1360
• 功率范围 - On TLS input（dBm）：0 至 10
• Transfer function - 动态范围 - F 型（1 or 2 TLS inputs）：65 dB typical (d, e)
• Transfer function - 采样分辨率（dB）：0.02
• 波长精度 - Absolute（pm）：±5 (a, b)
• 连接器类型 - TLS inputs and outputs：FC/APC narrow key
• TLS 输入端口数 - F 型：1 至 4 (SMF)
功能与特点
• 快速测量变化函数
• 波长范围为1240-1680 nm（SMF型号）
• PM和PDL选件
• 波长分辨率为1-250 pm
• 波长精度为±5 pm
• 单次扫描的动态范围为65 dB
典型应用
• 光子集成电路（PIC）测试
• 波长选择开关（WSS）测试
• 光滤波器测试
资源下载
• 详细指标：全部技术指标已单独整理，详见 CT440/CT440-PDL 无源元器件测试仪 详细指标页
onetest仪器资源库 · EXFO CT440/CT440-PDL 无源元器件测试仪
EXFO · EXFO Inc.
CT440/CT440-PDL 无源元器件测试仪 · 详细指标
工作波长范围 1240 至 1680 · 工作波长范围 1260 至 1360 · 功率范围 - On TLS input 0 至 10
产品简介
紧凑的测试仪，用于快速、准确地鉴定无源光元器件
本页按官方规格资料分组收录 CT440/CT440-PDL 无源元器件测试仪 的全部关键技术指标；产品定位、特性与应用场景请见 CT440/CT440-PDL 产品介绍页。
技术指标
技术规格
• 工作波长范围（nm） - F 型（Full-band IL）：1240 至 1680
• 工作波长范围（nm） - O 型（O-band PM IL）：1260 至 1360
• 工作波长范围（nm） - SCL 型（SCL-bands PM IL）：1440 至 1640
• 工作波长范围（nm） - PDL-O 型（O-band IL & PDL）：1260 至 1360
• 工作波长范围（nm） - PDL-SCL 型（SCL-bands IL & PDL）：1440 至 1640
• 波长精度 - Absolute（pm）：±5 (a, b)
• 波长精度 - Relative（pm） - F, O, SCL 型：±1 (a)
• 波长精度 - Relative（pm） - PDL-O, PDL-SCL 型：±5 (a)
• TLS 输入端口数 - F 型：1 至 4 (SMF)
• TLS 输入端口数 - O, PDL-O 型：1 (PM13)
• TLS 输入端口数 - SCL, PDL-SCL 型：1 (PM15)
• TLS 输出端口数 - F 型：1 (SMF)
• TLS 输出端口数 - O 型：1 (PM13)
• TLS 输出端口数 - SCL 型：1 (PM15)
• TLS 输出端口数 - PDL-O, PDL-SCL 型：1 (SMF)
• 连接器类型 - TLS inputs and outputs：FC/APC narrow key
• 偏振消光比（PER） - O, SCL 型：≥20 dB
• 偏振消光比（PER） - PDL-O, PDL-SCL 型：≥18 dB (recommended)
• detector ports数量：1, 2 or 4
• 连接器类型 - Detector array：FC/PC wide key
• Electrical ports (rear panel) - Trigger out（5 V TTL）：Swept measurement external synchronization (pulse train generated at native sampling resolution)
• Electrical ports (rear panel) - Trigger in（5 V TTL）：Triggered measurement without laser sweep control (measurement is taken when TTL level = high)
• Electrical ports (rear panel) - Analog voltage in（0-5 V high impedance）：Voltage level sampling from an external device (sampling resolution of 1.3 mV)
• 功率范围 - On TLS input（dBm）：0 至 10
• 功率范围 - On detector ports（dBm）：–60 至 7
• Transfer function - 精度（dB）：±0.2 (c, d)
• Transfer function - 采样分辨率（dB）：0.02
• Transfer function - 动态范围 - F 型（1 or 2 TLS inputs）：65 dB typical (d, e)
• Transfer function - 动态范围 - F 型（3 or 4 TLS inputs）：60 dB typical (d, e)
• Transfer function - 动态范围 - O, SCL, PDL-O, PDL-SCL 型：65 dB typical (d, e)
• 偏振相关损耗（PDL） - 精度（dB）：±0.05 + 4% PDL (f)
• 偏振相关损耗（PDL） - Measurement range：0 至 20 (g)
• 偏振相关损耗（PDL） - 可重复性：±0.05
• 采样特性 - 分辨率（pm） - F, O, SCL 型：1 至 250
• 采样特性 - 分辨率（pm） - PDL-O, PDL-SCL 型：5 至 250
• 采样特性 - Native sampling resolution：N × 100 ±10 MHz (N=1 至 250)
• Compatible sweep speed of TLS（nm/s）：From 10 至 100
• Data handling - Interface with PC / Data rate：USB-B 2.0 / 4 MBaud
• Maximum number of transfer function data points per TLS per detector - 1 detector：260,000 (h)
• Maximum number of transfer function data points per TLS per detector - 2 detectors：219,500 (h)
• Maximum number of transfer function data points per TLS per detector - 3 detectors：164,400 (h)
• Maximum number of transfer function data points per TLS per detector - 4 detectors：131,100 (h)
• Maximum number of transfer function data points per TLS per detector - 5 detectors：110,500 (h)
(a) For a TLS sweep > 5 nm at sampling resolution of 5 pm for PDL-O and PDL-SCL and 1 pm otherwise, excluding the acceleration and deceleration part of the TLS sweep. (b) After wavelength referencing. (c) For incident power on detectors > –30 dBm. Accuracy: ± 0.5 dB for power between –30 dBm and –60 dBm. (d) 1260 nm to 1640 nm. (e) If laser output power = 10 mW (dynamic range is proportional to laser output power). (f) For incident power on detectors > –30 dBm and determined from a 6-states measurement at 5 pm resolution. (g) Stable testing conditions, 6-states recommended for high PDL. (h) Selected frequency range of the laser divided by the native sampling resolution.
通用规格
• 工作温度：15 ℃ 至 30 ℃ (59 ℉ 至 86 ℉)
• 存储温度：–10 ℃ 至 60 ℃ (14 ℉ 至 140 ℉)
• 相对湿度：< 80 % non-condensing
• 电源：AC 100 V 至 240 V (50 Hz 至 60 Hz)
• 外形尺寸（宽×高×深）：440 mm × 50 mm × 375 mm (17.3 in × 2 in × 14.8 in), including rackmounting brackets
• 重量：Between 3.5 kg and 3.9 kg (7.7 lb 至 8.6 lb), depending on model
注：以上指标摘自 EXFO 官网公开产品规格资料，未特别说明均为典型值；指标可能随硬件与软件版本变化，恕不另行通知。官方规格书中以字母标注的脚注（测试条件）未在本页展开，完整条件请以原规格书为准。
onetest仪器资源库 · EXFO CT440/CT440-PDL 无源元器件测试仪 详细指标
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EXFO 芬兰：Elektroniikkatie 2, FI-90590 Oulu, Finland 电话：+358 (0) 403 010 300
EXFO America Inc.：612 Spring Hill Drive, Suite 180, Spring, TX 77386-6045, USA 电话：+1 972-761-9271
EXFO Europe Ltd.：Winchester House, School Lane, Chandlers Ford, SO53 4DG, UK 电话：+44-2380-246-800
EXFO Asia Pacific PTE Ltd.：229 Mountbatten Road #02-26 Mountbatten Square, Singapore 398007 电话：+65-6333-8241 传真：+65-6333-8242
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