频率范围:3 MHz 至 6 GHz
阻抗:50 欧姆
板材厚度0.3至3毫米
数据库填充的介电常数为 25
适用于测试陶瓷(样品表面必须平坦)
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频率范围:3 MHz 至 6 GHz
阻抗:50 欧姆
板材厚度0.3至3毫米
数据库填充的介电常数为 25
适用于测试陶瓷(样品表面必须平坦)
用于测量材料介电特性的 Epsilometer 解决方案可在 3 MHz 至 6 GHz的频率下测量介电基板材料 ,并可容纳 0.3 至 3 mm厚的片材样本。
Compass Technology的 John Schultz 博士表示,该解决方案采用了一种新方法,“与之前的介电分析技术不同,这种新方法使用计算电磁模型来反演介电常数和损耗。这比传统方法取得了重大进步,传统方法使用解析近似并且仅限于 1 GHz 以下的频率。”
Epsilometer 解决方案包括带有软件的R60 VNA 、测量夹具、Esilometer 软件和校准样本。
Epsilometer 可用于微波电路材料、天线天线罩、天线基板、无线设备(4G/LTE、WiFi、蓝牙、5G、物联网等)封装以及许多其他应用的设计和制造。
Datasheets
Manuals
Epsilometer Operating Manual | Dielectric Analyzer for Rapid Measurement | Uncertainty Measurement
Software
If using the original Epsilometer V1 hardware, you must download and use the Epsilometer V1 software. Epsilometer V2 hardware versions are indicated on the units and must use the Epsilometer V2 software.
RVNA Windows Software Download
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总机:025-52635773
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