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高精度、易于使用的智能光谱分析仪(OSA),用于分析CWDM和DWDM网。
FTBx-5245/5255不仅提供了实现最高现场效率所需的所有工具,还提升了测试的可靠性、准确性和速度。该设备兼容FTB-1v2Pro、FTB-4Pro、LTB-8和LTB-12平台。
适用于DWDM、CWDM和DWDMoverCWDM网络的光频谱分析仪(OSA)

同厂商产品

无源产品综合测试系统工作波长 1260 至 1620nm,支持定制开发 Coupler、WDM、Isolator、Circulator 等无源产品综合测试系统,兼容扫描测试与点光源测试,支持可调光源、光谱分析仪等设备的多工位共享。一次接线即可执行扫描测试 IL、Rip、ISO以及单点 IL、PDL、INRL、OUTRL、DIR 等参数。插损(IL)不确定度 ±0.05dB(光纤熔接测试)/±0.1dB(连接头测试),PDL 不确定度 ±0.03dB,单通道扫描时间 5s、单点 PDL 纯测时间 1s,自动判定结果并批量生成出货报表。
Isolator、Circulator 自动测试系统工作波长 1260 至 1620nm,自动测试并计算 IL、PDL、RLin、RLout、ISO、CT、WDL、TDL 等参数。Circulator 兼容器件、模块与机箱扫描测试,支持高低温测试与升降温自动延时控制;Isolator 支持同时测试 4 个器件,利用高低温等待时间提高产能。插损不确定度 ±0.05dB(光纤熔接测试)/±0.1dB(连接头测试),PDL 不确定度 ±0.03dB,单通道扫描时间 15s,自动判定产品等级并生成出货报表。
DWDM 并行扫描一拖四测试系统工作波长 1260 至 1620nm,支持 DWDM/AWG 模块(器件)与 100G LAN-WDM 器件的扫描与 PDL 测试。支持多工位对可调光源实时并行共享扫描,工位互不干扰。插损不确定度 ±0.05dB(光纤熔接测试)/±0.1dB(连接头测试),单通道扫描时间 6 至 10s、单点 PDL 纯测时间 3 至 5s,自动计算 ITU IL、Min/Max IL、IL uniformity、Ripple、PDL、中心波长偏移量、Bandwidth、Isolation、Crosstalk 等参数,并自动判定与生成出货报表。
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Coupler综合测试系统 1260至1620nm 一拖四共享|光泰通信 (在产)

Coupler 综合测试系统工作波长 1260 至 1620nm,一次接线即可同时进行全带宽扫描测试与单点 IL、PDL、RL、DIR 测试,支持高低温测试。一拖四共享宽带光源与 OSA 光谱分析仪,节约硬件成本。兼容 1×2、2×2、1×4 Coupler 产品与 WDM 器件,自动测试并计算 IL、WDL、PDL、RL、DIR、UL、TDL 等参数;插损不确定度 ±0.05dB(光纤熔接测试)/±0.1dB(连接头测试),数据经 SQL Server 海量保存并自动生成出货报表。
参考价格 :
产品描述
详细指标
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系统与解决方案

光泰通信 Brightas · 深圳光泰通信设备有限公司
Coupler综合测试系统
1×2/2×2/1×4 Coupler 与 WDM 器件综合测试 · 一次接线
产品简介
一次接线,同时进行全带宽扫描测试和单点IL,PDL,RL,DIR测试,支持高低温测试.一拖四共享宽带光源和OSA光谱分析仪,节约硬件成本。
Coupler综合测试系统 测试界面示意图
图:测试界面示意图
官方定位:作为光泰通信的光无源器件测试系统产品,Coupler综合测试系统 面向光通信器件研发、批量生产与测试场景,覆盖光无源器件与光模块的产线检测需求。
核心参数
• 工作波长:1260 至 1620 nm
• 测试指标:ITU IL/Min IL/Max IL/WDL/Ripple/TDL 等
• 插损(IL)不确定度:±0.05 dB(光纤熔接测试);±0.1 dB(连接头测试)
• 测量模式:OSW 扫描
• 单通道扫描时间:6 至 8 s(AQ6370,1250 至 1650 nm,步距 0.1 nm)
主要特点
一次接线,同时进行全带宽扫描测试和单点IL,PDL,RL,DIR测试,支持高低温测试.
一拖四共享宽带光源和OSA光谱分析仪,节约硬件成本。
兼容1X2, 2X2, 1X4 Coupler产品和WDM器件测试,自动测试并计算IL、WDL、PDL、RL、DIR、UL、TDL等参数。
自动判定测试结果;所有数据通过SQL Server数据库海量保存,自动批量生成出货报表。
资源下载
• 详细指标:全部技术指标已单独整理,详见 Coupler综合测试系统 详细指标页
onetest仪器资源库 · 光泰通信 Coupler综合测试系统

 

 

光泰通信 Brightas · 深圳光泰通信设备有限公司
Coupler综合测试系统 · 详细指标
1×2/2×2/1×4 Coupler 与 WDM 器件综合测试 · 一次接线
产品简介
一次接线,同时进行全带宽扫描测试和单点IL,PDL,RL,DIR测试,支持高低温测试.一拖四共享宽带光源和OSA光谱分析仪,节约硬件成本。
官方规格表
下表按光泰通信官网 Coupler综合测试系统 产品页规格表整理;未特别说明均为典型值。
• 工作波长:1260 至 1620 nm
• 测试指标:ITU IL/Min IL/Max IL/WDL/Ripple/TDL 等
• 插损(IL)不确定度:±0.05 dB(光纤熔接测试);±0.1 dB(连接头测试)
• 测量模式:OSW 扫描
• 单通道扫描时间:6 至 8 s(AQ6370,1250 至 1650 nm,步距 0.1 nm)
注:以上参数取自光泰通信官网该产品页规格表,完整指标与适用条件以官方资料为准。
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• 产品介绍:产品定位、核心参数与主要特点详见 Coupler综合测试系统 产品介绍页
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