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QL67668是一款单槽PXIe模拟输出模块，具有64路模拟输出，每组使用一个通道的情况下，最大更新速率可达4MHz，在非同步输出模式下，所有通道输出时，最大更新速率为500kHz，同步输出模式下，最大更新速率可达2MHz，同时具备20路数字I/O和4个计数器，
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VXI 数字测试仪器，25/50MHz 可选、32/48/64 通道，Quad-Detect™ 提升故障检出。
Ai-Series VXI及PXI/LXI 高性能ATE模拟测试仪器|泰瑞达 (在产)
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系统与解决方案
泰瑞达 Teradyne · 泰瑞达（Teradyne）
Ai-Series
面向高性能 ATE 的模拟测试构建块，提供 VXI 架构 CSi 与 ZT-Series PXI/LXI 两个仪器系列。
产品简介
泰瑞达提供两个系列的模拟测试仪器：VXI 架构的核心系统仪器（CSi）与 ZT-Series™ PXI/LXI 仪器。两个系列都满足当今严苛的测试要求，同时为既有 ATE 系统带来改进的测试能力。
CSi 系列仪器包括数字采样示波器（DSO）、DMM 和多功能模拟（MFA）能力，适合新建和既有 ATE 系统，其中若干型号具备多通道并行同步能力以提升测试吞吐量；紧凑的 PXI/LXI 架构 ZT-Series DSO 与任意波形发生器（AWFG）适合需要更小占地的全新 ATE 系统。
官方定位：面向高性能 ATE 的模拟测试构建块，提供 VXI 架构 CSi 与 ZT-Series PXI/LXI 两个仪器系列。
核心参数
• 仪器族：VXI 架构 CSi 与 ZT-Series PXI/LXI
• Ai-710：VXI 模拟测试仪器，具备先进并行测试能力，提升测试吞吐量
• Ai-762：基于标准的 VXI 测试仪器，融合传统功能与先进并行测试能力
• CSi 能力：数字采样示波器（DSO）、DMM、多功能模拟（MFA）
• 架构特性：若干 CSi 仪器提供 tester-per-pin（每引脚测试机）架构
• 形态：VXI 与 PXIe 两种形态，提高通道密度并降低整体测试系统占地与成本
• 支持服务：24 小时维修返还、热线电话支持、培训与文档
平台优势
• 若干 CSi 仪器提供 tester-per-pin 架构，在每个 CSi 模拟通道上组合完整激励/测量能力，简化接口测试适配器设计
• 跨广泛规格范围的卓越测试性能
• 两个系列都提供高吞吐量测试，以及对混合信号线路可更换单元（LRU）等复杂系统的并行激励/测量
• 高功能密度形态：VXI 与 PXIe 形态提高通道密度，同时降低整体测试系统占地与成本
• COTS 架构：提供激励与测量灵活性、高可靠性以及更低采购成本，从而降低生命周期成本
• 全球支持：24 小时维修返还、热线电话支持，以及全面的培训与文档
仪器构成
• VXI 架构核心系统仪器（CSi）：含数字采样示波器（DSO）、DMM、多功能模拟（MFA）能力
• ZT-Series™ PXI/LXI 仪器：高性能数字存储示波器、数字化仪、波形发生器
• Ai-710：VXI 模拟测试仪器，具备先进并行测试能力
• Ai-762：基于标准的 VXI 测试仪器，融合传统功能与先进并行测试能力
• 紧凑的 PXI 或 LXI 架构 ZT-Series DSO 与任意波形发生器（AWFG），适合需要更小占地的全新 ATE 系统
典型应用场景
• 用于 ATE 与既有测试系统的高性能模拟仪器
• 需要在紧凑高密度封装中实现高性能和/或多通道激励测量功能的新型混合信号 ATE 系统
• 替换老旧、较慢的分立式（机架安装）测试与测量仪器
资源下载
• 详细指标：全部技术指标已单独整理，详见 Ai-Series 详细指标页
onetest仪器资源库 · 泰瑞达 Ai-Series
泰瑞达 Teradyne · 泰瑞达（Teradyne）
Ai-Series · 详细指标
面向高性能 ATE 的模拟测试构建块，提供 VXI 架构 CSi 与 ZT-Series PXI/LXI 两个仪器系列。
产品简介
高性能 ATE 模拟仪器族，含 Ai-710/Ai-762 VXI 仪器与 ZT-Series PXI/LXI 示波器与波形发生器。
官方定位：面向高性能 ATE 的模拟测试构建块，提供 VXI 架构 CSi 与 ZT-Series PXI/LXI 两个仪器系列。
核心规格
• 仪器族：VXI 架构 CSi 与 ZT-Series PXI/LXI
• Ai-710：VXI 模拟测试仪器，具备先进并行测试能力，提升测试吞吐量
• Ai-762：基于标准的 VXI 测试仪器，融合传统功能与先进并行测试能力
• CSi 能力：数字采样示波器（DSO）、DMM、多功能模拟（MFA）
• 架构特性：若干 CSi 仪器提供 tester-per-pin（每引脚测试机）架构
• 形态：VXI 与 PXIe 两种形态，提高通道密度并降低整体测试系统占地与成本
• 支持服务：24 小时维修返还、热线电话支持、培训与文档
仪器族
• VXI 架构核心系统仪器（CSi）：DSO、DMM、多功能模拟（MFA）
• ZT-Series™ PXI/LXI 仪器：数字存储示波器、数字化仪、波形发生器
• Ai-710：VXI 模拟测试仪器（先进并行测试能力）
• Ai-762：基于标准的 VXI 测试仪器（传统功能 + 先进并行测试能力）
架构特性
• tester-per-pin 架构（若干 CSi 仪器）：每个模拟通道具完整激励/测量能力
• 形态：VXI 与 PXIe，提高通道密度并降低系统占地与成本
• COTS 架构：更低采购成本与生命周期成本
• 部分 CSi 仪器具备多通道并行同步能力
支持服务
• 24 小时维修返还
• 热线电话支持
• 全面的培训与文档
注：以上指标按泰瑞达（Teradyne）官方产品页整理，未特别说明者为厂商标称值。
资源下载
• 产品概览：Ai-Series 产品介绍页（定位、核心参数、选型与应用场景）
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客户服务：customercare@teradyne.com
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网址：https://teradyne.cn
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