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160通道跳线可靠性测试系统|衍浩通讯 (在产)

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上海衍浩通讯技术有限公司 · 光无源器件测试系统

跳线可靠性测试系统

光分路器/跳线可靠性测试系统,160 通道在线监控,支持 PDL 与回波损耗测试
160
在线监控通道
>75dB
回损测试
0.03dB
偏振重复性
Bellcore
可靠性标准
产品定位

跳线可靠性测试系统面向光分路器与跳线的可靠性试验,支持 160 通道在线同时监控。

工作波长 1310/1550/1490/1625nm(单模)与 850/1300nm(多模),光源稳定性 0.01dB;插损测量范围 +5~-60dBm,回损测试大于 75dB(单模)/50dB(多模),偏振重复性 0.03dB。

采用免缠绕插损回损测试,支持 PDL 与回波损耗测试,符合 Bellcore 1209/1221/368 可靠性测试要求,支持数据库数据存储与 XML 测试报告。

核心参数
· 工作波长(nm):1310/1550/1490/1625 | 850/1300
· 光源稳定性(dB):0.01 | 0.01
· 通道数(dB):12/24/36/48/64/160 | 12/24/36/48/64/160
· 测试线性度(dB):0.04dB (+3~-50dBm) 0.3dB (-50~-60dBm)
· 插损测量范围(dBm):+5~-60
· 测试不确定度:5%
· 回损测试(dB):>75 | >50
· 回损测试不确定度:0.3 dB (0~-60dB) 1.0 dB (-60~-75dB) | 0.3 dB (0~-45dB) 1.0 dB (-45~-55dB)
· 偏振重复性:0.03
· 通讯接口:RS232 / GPIB
· 工作电源:110VAC/220VAC 50HZ
· 工作温度 (℃):-10~+40
· 储存温度 (℃):-25~+70
· 尺寸(mm):300x340x160
· 其他:支持160通道在线同时测试,支持Bellcore 1209/1221/368 可靠性测试, 支持数据库数据存储,支持XML测试报告,出货报告打印。
产品特点
· 产品特点
– 支持光分路器/跳线可靠性测试系统
– 支持160通道在线监控
– 支持PDL和回波损耗测试
– 免缠绕插损回损测试,支持数据库
资源下载
· 本页仅列出核心参数,完整技术指标请见本页「详细指标」标签页。
上海衍浩通讯技术有限公司 · onetest 仪器资源库
本文由 onetest 仪器资源库依据厂商公开资料整理,参数以厂商正式资料为准。

 

 

上海衍浩通讯技术有限公司 · 光无源器件测试系统

跳线可靠性测试系统 · 详细指标

光分路器/跳线可靠性测试系统,160 通道在线监控,支持 PDL 与回波损耗测试
产品简介

跳线可靠性测试系统面向光分路器与跳线的可靠性试验,支持 160 通道在线同时监控。

工作波长 1310/1550/1490/1625nm(单模)与 850/1300nm(多模),光源稳定性 0.01dB;插损测量范围 +5~-60dBm,回损测试大于 75dB(单模)/50dB(多模),偏振重复性 0.03dB。

采用免缠绕插损回损测试,支持 PDL 与回波损耗测试,符合 Bellcore 1209/1221/368 可靠性测试要求,支持数据库数据存储与 XML 测试报告。

完整技术指标
· 工作波长(nm):1310/1550/1490/1625 | 850/1300
· 光源稳定性(dB):0.01 | 0.01
· 通道数(dB):12/24/36/48/64/160 | 12/24/36/48/64/160
· 测试线性度(dB):0.04dB (+3~-50dBm) 0.3dB (-50~-60dBm)
· 插损测量范围(dBm):+5~-60
· 测试不确定度:5%
· 回损测试(dB):>75 | >50
· 回损测试不确定度:0.3 dB (0~-60dB) 1.0 dB (-60~-75dB) | 0.3 dB (0~-45dB) 1.0 dB (-45~-55dB)
· 偏振重复性:0.03
· 通讯接口:RS232 / GPIB
· 工作电源:110VAC/220VAC 50HZ
· 工作温度 (℃):-10~+40
· 储存温度 (℃):-25~+70
· 尺寸(mm):300x340x160
· 其他:支持160通道在线同时测试,支持Bellcore 1209/1221/368 可靠性测试, 支持数据库数据存储,支持XML测试报告,出货报告打印。
产品特点
– 支持光分路器/跳线可靠性测试系统
– 支持160通道在线监控
– 支持PDL和回波损耗测试
– 免缠绕插损回损测试,支持数据库
上海衍浩通讯技术有限公司 · onetest 仪器资源库
本文由 onetest 仪器资源库依据厂商公开资料整理,参数以厂商正式资料为准。

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