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1260nm至1630nm WDM波分器件扫描系统|衍浩通讯 (在产)

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上海衍浩通讯技术有限公司 · 光无源器件测试系统

WDM 波分器件扫描系统

WDM 波分器件扫描系统,波长分辨率 1pm,单工位支持 2~64 通道功率计
1pm
波长分辨率
16
最大工位数
0.02dB
光源扫描重复性
<12s
100nm 带宽扫描
产品定位

WDM 波分器件扫描系统用于多通道合波/分波测试,工作波长 1260~1360nm 与 1520~1630nm。

波长分辨率 1pm、波长精度 5pm,光源扫描重复性 0.02dB,偏振相关损耗重复性 0.03dB;插损测量范围 +10~-70dBm,功率计测试线性度 0.04dB(+3~-50dBm)/0.3dB(-50~-65dBm)。

最大支持 16 个工位,每工位可配 2/4/8/16/48/64 通道功率计,支持 CWDM/LAN-WDM/DWDM;100nm 带宽扫描带 PDL 测试小于 12 秒、不带 PDL 小于 6 秒,支持 XML 测试报告与出货报告打印。

核心参数
· 工作波长(nm):1260~1360/1520~1630
· 最大支持工位数:16
· 每个工位支持功率计通道数:2/4/8/16/48/64
· 波长分辨率(pm):1
· 波长精度(pm):5
· 光源扫描重复性(dB):0.02
· 偏振相关损耗重复性:0.03
· 功率计测试线性度(dB):0.04dB (+3~-50dBm) 0.3dB (-50~-65dBm)
· 插损测量范围(dBm):+10~-70
· 测试不确定度:5%
· 扫描时间(秒):<12秒@100nm带宽 with PDL 测试 <6 秒@100nm带宽 without PDL 测试
· 通讯接口:以太网
· 工作电源:110VAC/220VAC 50HZ
· 工作温度 (℃):-10~+40
· 储存温度 (℃):-25~+70
· 尺寸(mm):300x340x160
· 其他:支持2/4/8/16/48/64 多通道CWDM/LANWDM/DWDM, 支持数据库数据存储,支持XML测试报告,出货报告打印。
产品特点
· 产品特点
– WDM 多通道合波分波测试
资源下载
· 本页仅列出核心参数,完整技术指标请见本页「详细指标」标签页。
上海衍浩通讯技术有限公司 · onetest 仪器资源库
本文由 onetest 仪器资源库依据厂商公开资料整理,参数以厂商正式资料为准。

 

 

上海衍浩通讯技术有限公司 · 光无源器件测试系统

WDM 波分器件扫描系统 · 详细指标

WDM 波分器件扫描系统,波长分辨率 1pm,单工位支持 2~64 通道功率计
产品简介

WDM 波分器件扫描系统用于多通道合波/分波测试,工作波长 1260~1360nm 与 1520~1630nm。

波长分辨率 1pm、波长精度 5pm,光源扫描重复性 0.02dB,偏振相关损耗重复性 0.03dB;插损测量范围 +10~-70dBm,功率计测试线性度 0.04dB(+3~-50dBm)/0.3dB(-50~-65dBm)。

最大支持 16 个工位,每工位可配 2/4/8/16/48/64 通道功率计,支持 CWDM/LAN-WDM/DWDM;100nm 带宽扫描带 PDL 测试小于 12 秒、不带 PDL 小于 6 秒,支持 XML 测试报告与出货报告打印。

完整技术指标
· 工作波长(nm):1260~1360/1520~1630
· 最大支持工位数:16
· 每个工位支持功率计通道数:2/4/8/16/48/64
· 波长分辨率(pm):1
· 波长精度(pm):5
· 光源扫描重复性(dB):0.02
· 偏振相关损耗重复性:0.03
· 功率计测试线性度(dB):0.04dB (+3~-50dBm) 0.3dB (-50~-65dBm)
· 插损测量范围(dBm):+10~-70
· 测试不确定度:5%
· 扫描时间(秒):<12秒@100nm带宽 with PDL 测试 <6 秒@100nm带宽 without PDL 测试
· 通讯接口:以太网
· 工作电源:110VAC/220VAC 50HZ
· 工作温度 (℃):-10~+40
· 储存温度 (℃):-25~+70
· 尺寸(mm):300x340x160
· 其他:支持2/4/8/16/48/64 多通道CWDM/LANWDM/DWDM, 支持数据库数据存储,支持XML测试报告,出货报告打印。
产品特点
– WDM 多通道合波分波测试
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