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BD350 350W老化测试机 常温至150℃|长川科技 (在产)
参考价格 ：
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系统与解决方案
长川科技 杭州长川科技股份有限公司
350W老化测试机 BD350
10Mhz · 800W · 数模混合测试
产品简介
BD350老化测试机是以量产测试SoC芯片为目标的老化测试机，适用于车规级芯片等高可靠性应用场景要求的芯片的老化测试，最大支持测试350W功耗SoC芯片，可向下兼容
核心参数
• 控温精度：±5℃
• 系统特点：具备Socket独立控温，支持Room~150℃温度范围的芯片的老化测试，可应用于车规级等高功耗芯片老化测试；自动化程度高，操作简单；刀片单元柔性度高，换测方便
• 最大支持芯片功耗：800W
• 设备尺寸：2820mm（L）×1710mm(W)×2385mm(H)
• 温控范围：Room~150℃
• 控温方式：Socket 独立控温
• IO 通道：256
• VIH范围：0.5~4V
功能特性
• 适用于车规级芯片等高可靠性应用场景要求的芯片的老化测试
• 具备Socket独立控温，支持Room~150℃温度范围的芯片的老化测试，可应用于车规级等高功耗芯片老化测试
• 自动化程度高，操作简单
• 刀片单元柔性度高，换测方便
应用场景
• 应用环节：可靠性验证 / 老化筛选——在高温条件下对 SoC 芯片长时间加电老化，筛除早期失效，面向车规等高可靠性场景
资源下载
• 350W老化测试机 BD350 的全部技术指标已单独整理，见本产品详情页「详细指标」标签。
以上内容与指标均取自长川科技（杭州长川科技股份有限公司）官网该产品详情页与官方产品资料，未标注口径的为厂家公布值。
长川科技 · onetest 仪器资源库
长川科技 杭州长川科技股份有限公司
350W老化测试机 BD350 详细指标
10Mhz · 800W · 数模混合测试
详细指标
指标取自长川科技 官网产品页，按官网参数表原文整理；官网未提供独立 PDF 规格书。
数模混合测试技术参数
• 设备型号：BD350
• 系统特点：具备Socket独立控温，支持Room~150℃温度范围的芯片的老化测试，可应用于车规级等高功耗芯片老化测试；自动化程度高，操作简单；刀片单元柔性度高，换测方便
• 最大支持芯片功耗：800W
• 设备尺寸：2820mm（L）×1710mm(W)×2385mm(H)
• 温控范围：Room~150℃
• 控温方式：Socket 独立控温
• 控温精度：±5℃
• IO 通道：256
• VIH范围：0.5~4V
• DPS数量：16
• DC POWER：2set
• 最大速率：10Mhz
• 向量深度：32M
资源下载
以上规格取自长川科技（杭州长川科技股份有限公司）官网 BD350 系列产品详情页。
长川科技 · onetest 仪器资源库
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