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致力于满足汽车电子、医疗设备、5G通信及人工智能等关键领域芯片的动态老化测试。系统搭载高效电源系统、多通道高频架构，支持最高150瓦的高功率器件测试，适用于逻辑器件的生产筛选、工程特性分析与寿命测试验证，可为关键领域芯片的可靠性提升与故障早期筛查提供稳定高效的解决方案。
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先进的高性能老化测试系统，能够对汽车电子、医疗设备、5G通信等关键领域的低功率（≤5W）逻辑芯片进行动态老化测试，适用于逻辑器件的生产筛选、工程特性分析以及寿命测试等应用。
JH5905A Series 逻辑芯片自动化测试系统|武汉精测 (在产)
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系统与解决方案
武汉精测 武汉精测电子集团股份有限公司
JH5905A Series 逻辑芯片自动化测试系统
数字/模拟芯片测试 · 数字芯片测试
产品简介
主要针对于汽车电子、医疗设备、5G通信、航空航天、数据中心、AI智能等关键领域芯片的动态老化测试。系统搭载高效电源系统、多通道高频IO、高精度控温架构，已经开发出JH5905A/JH5915A/JH59150A系列机台，可覆盖从50W中低功率到1000W以上高功率芯片进行动态老化测试，适用于各类规格逻辑器件的生产筛选、工程特性分析与寿命测试验证，为关键领域芯片的可靠性提升与故障早期筛查提供稳定高效的解决方案。
核心参数
• 设备尺寸（W×D×H）：3800 × 2000 × 2350 mm
• 供电：AC380 V 50/60 Hz，70 A×2 路
• 支持产品功率：≤50 W
• 腔室 / Zone / Slot：2 腔 / 48 Zone / 48 Slot
• 温度设定范围：RT+10 至 150 ℃
资源下载
• JH5905A Series 逻辑芯片自动化测试系统 的全部技术指标已单独整理，见本产品详情页「详细指标」标签。
以上内容与指标均取自武汉精测（武汉精测电子集团股份有限公司）官网该产品详情页与官方产品资料，未标注口径的为厂家公布值。
武汉精测电子集团股份有限公司 · onetest 仪器资源库
武汉精测 武汉精测电子集团股份有限公司
JH5905A Series 逻辑芯片自动化测试系统 详细指标
数字/模拟芯片测试 · 数字芯片测试
详细指标
指标取自厂家官网该产品页的规格表截图，按原图转写，未做换算。
整机
• 设备尺寸（W×D×H）：3800 × 2000 × 2350 mm
• 供电：AC380 V 50/60 Hz，70 A×2 路
• 支持产品功率：≤50 W
• 腔室 / Zone / Slot：2 腔 / 48 Zone / 48 Slot
• 温度设定范围：RT+10 至 150 ℃
电源
• 输出能力：0.4 至 10 V/60 A 200 W×8 CHS；0.4 至 10 V/15 A 80 W×2 CHS
• 设置、回读精度：0.3%±10 mV
• 分辨率：1 mV
• 保护：OVP、UVP、OCP
• 设置：支持同步、分步上下电
IO
• 通道数：256 通道全双向
• 驱动电流：100 mA
• 频率：10 MHz
• 电平：-2 至 6 V
• 分组：4 组
• 向量深度：64 M
控温
• 控温方式：独立温控 & 非独立温控
• 控温精度：±3 ℃
武汉精测官网 www.wuhanjingce.com 产品页与官方产品手册，采集于 2026-10-22
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