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支持802.3 1000Base-T物理层测试;支持ANSI X3.263 100Base-Tx物理层测试;1区SMA接口用于回波损耗测试;2区2.54mm插针用于连接差分探头;3区用于1000Base-TTx共模信号测试;4区用于100Base-Tx测试;板载100Base-Txlinkpartner,无需额外连接即可完成100Base-Tx测试;支持回波损耗校准;jittertestchannel不支持;disturb信号不支持;
支持PCIe 16Gbps/8Gbps/5Gbps/2.5Gbps速率;Tx,Rx,时钟以及CMTS信号均使用SMP接口;x1和x16接口各自独立;高速信号微带线设计,阻抗85+/-8.5欧姆;Tx和Rx信号分别等长设计,Tx 2000mil,Rx 4000mil;设计有插损校准线,长线和短线差值3inch;板载CMTS产生电路,用于测试码型切换;辅助信号全部交流端接;支持外部CMTStrigger控制;板载12V和3.3V电源指示灯;
支持PCIe 16Gbps/8Gbps/5Gbps/2.5Gbps速率;Tx,Rx,时钟以及CMTS信号均使用SMP接口;x4和x8接口各自独立;高速信号微带线设计,阻抗85+/-8.5欧姆;Tx和Rx信号分别等长设计,Tx 2000mil,Rx 4000mil;设计有插损校准线,长线和短线差值3inch;板载CMTS产生电路,用于测试码型切换;辅助信号全部交流端接;支持外部CMTStrigger控制;板载12V和3.3V电源指示灯;
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PCIE 4.0 CBB,add-in-card测试夹具 |海凌克电子 (在产)

  • 支持PCIe 16Gbps/8Gbps/5Gbps/2.5Gbps速率测试;

  • Tx,Rx,外部时钟以及CMTS信号均使用SMP接口;

  • 高速信号微带传输线设计,Tx和Rx均为3inch走线;

  • Tx和Rx差分对内布线偏差小于+/-1mil;

  • 板载CMTS产生电路,用于测试码型切换;

  • 板载超低抖动时钟,符合PCIe 4.0时钟抖动需求;

  • 支持外部时钟注入;

  • 支持CMTS,reset和power on信号外部控制;

  • 板载12V和3.3V电源指示灯;

  • 板载12V和3.3V电流采样电阻,便于AIC功耗测试;


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特性:

  • 支持PCIe 16Gbps/8Gbps/5Gbps/2.5Gbps速率测试;

  • Tx,Rx,外部时钟以及CMTS信号均使用SMP接口;

  • 高速信号微带传输线设计,Tx和Rx均为3inch走线;

  • Tx和Rx差分对内布线偏差小于+/-1mil;

  • 板载CMTS产生电路,用于测试码型切换;

  • 板载超低抖动时钟,符合PCIe 4.0时钟抖动需求;

  • 支持外部时钟注入;

  • 支持CMTS,reset和power on信号外部控制;

  • 板载12V和3.3V电源指示灯;



  • 板载12V和3.3V电流采样电阻,便于AIC功耗测试;    


应用领域:

  • PCIe 4.0 Add-In-Card电气性能测试;


维保:

  • 夹具非人为损坏质保一年;

  • IO连接器及同轴连接器属易耗品,不在维保范围;

PCIE 4.0 CBB测试夹具


PCIE 4.0 CBB测试夹具

 

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厂家联系方式:


电话: +86 186 8883 5304
邮箱: sales@hilinkelec.com
地址: 陕西省西安市雁塔区锦业一路56号研祥城市广场广场B座2030室






 

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