支持802.3 1000Base-T物理层测试;
支持ANSI X3.263 100Base-Tx物理层测试;
1区SMA接口用于回波损耗测试;
2区2.54mm插针用于连接差分探头;
3区用于1000Base-T Tx共模信号测试;
4区用于100Base-Tx测试;
板载100Base-Tx link partner,无需额外连接即可完成100Base-Tx测试;
支持回波损耗校准;
jitter test channel 不支持;
disturb信号不支持;
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100/1000M以太网测试夹具,100Base-Tx/1000Base-T以太网RJ45接口测试夹具 |海凌克电子 (在产)
特性:
支持802.3 1000Base-T物理层测试;
支持ANSI X3.263 100Base-Tx物理层测试;
1区SMA接口用于回波损耗测试;
2区2.54mm插针用于连接差分探头;
3区用于1000Base-T Tx共模信号测试;
4区用于100Base-Tx测试;
板载100Base-Tx link partner,无需额外连接即可完成100Base-Tx测试;
支持回波损耗校准;
jitter test channel 不支持;
disturb信号不支持;
应用领域:
100Base-Tx/1000Base-T以太网RJ45接口物理层测试;
维保:
夹具非人为损坏质保一年;
IO连接器及同轴连接器属易耗品,不在维保范围;
厂家联系方式:
电话: +86 186 8883 5304
邮箱: sales@hilinkelec.com
地址: 陕西省西安市雁塔区锦业一路56号研祥城市广场广场B座2030室
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