· 支持全流程自动测试功能，且界面实时反馈工作状态及报警信息
· 支持多种产品快速切换，且操作便捷
· 支持后续产品品类无限拓展
· 支持灵活配置软件TPS，以满足不同测试流程切换、补充
· 支持高低温状态管脚正反辨识
· 支持测试数据自动采集、存储、MES/云端上传
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·测试频率高：DC-50GHz·适用性高：几乎可满足所有的封装形式的器件，SMD、QFN（QFP）、SOT（SOP)、BGA、带引线蝴蝶翼等·性价比高：一个主体兼容多款载台
· 测试频率高：DC-50GHz· 典型功率：37dBm@8Ghz
· 支持全流程自动测试功能，且界面实时反馈工作状态及报警信息· 支持多种工作模式灵活配置· 支持多品种阻容感快速扩展· 支持测试数据自动采集、存储、MES/云端上传· 支持测试夹具自动化校准· 支持产品快速换型，且操作便捷
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微波器件三温分选测试设备 |中微普业 (在产)
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系统与解决方案
微波器件三温分选测试设备
设备主要针对高频阻容感、无源器件、射频前端器件/模组、TR等微波器件三温条件下的生产、研发小批量、计量认证测试，满足待测微波器件从自动化电性能指标实时精确测试、筛选。
设备主要由hander机台、ATE测试模块、三温环境试验箱组成。Handler机台内置于三温环境试验箱内部，满足三温条件下待测芯片的从定制化Tray盘的自动化取放料、位置纠正、分选、摆盘功能，并最终配合矢量网络分析仪、阻抗分析仪、高低温信号提取夹具、射频链路器件，在ATE软件平台的统一支撑下实现整个系统的自动化测试运行。
产品特点
· 支持全流程自动测试功能，且界面实时反馈工作状态及报警信息
· 支持多种产品快速切换，且操作便捷
· 支持后续产品品类无限拓展
· 支持灵活配置软件TPS，以满足不同测试流程切换、补充
· 支持高低温状态管脚正反辨识
· 支持测试数据自动采集、存储、MES/云端上传
规格项 | 设计规格 |
外形尺寸 | ＜2000*1600*2100mm |
封装形式 | SOP/QFN/QFP/LGA/BGA/CSP等； |
封装尺寸 | 2×2～40×40mm |
温度范围 | -60℃～+150℃±2℃ |
升温速率 | (20℃～150℃) 40min 内(非线性无负载） |
降温速率 | (20℃～-60℃) 50min 内(非线性无负载） |
测试效率 | UPH＞200pcs（空载） |
进出料形式 | Tray To Tray |
换型时间 | ＜1h；（包括配置软件，更换夹具，更换仪器实现不同封装或类型芯片） |
可靠性 |
|
数据管理 | 自动采集，保存、分析、统计、导出的测试原始数据，支持生成excel、word格式的数据文件 |
校准 | 通过软件实现系统自动校准功能，自动记录校准数据、配置参数，重启系统后不丢失校准配置参数 |
测试工位 | 单/双工位 |
设备电源 | AC220V 50Hz |
设备气源 | 0.5～0.7Mpa |
通讯接口 | RS232、GPIB、LAN、TTL |
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