· 测试频率高：DC-40GHz，可扩展到50GHz
· 使用方便：测试时不需要有部件的拆装过程
· 适合几乎所有的各类封装的元件：SMD、QFN（QFP）、SOT（SOP)、BGA、带引线蝴蝶翼等
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·测试频率高：DC-50GHz·适用性高：几乎可满足所有的封装形式的器件，SMD、QFN（QFP）、SOT（SOP)、BGA、带引线蝴蝶翼等·性价比高：一个主体兼容多款载台
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AFX200系列 DC-40GH 可扩展到50GHz测试夹具|中微普业 (在产)
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系统与解决方案
AFX200系列夹具是一款是AFX300系列的简化版，是把测试载台、压接部分集成在一起，是为某一款芯片定制的测试夹具，适合与有批产的产品测试。TRL校准件可以通用AFX300系列中相同的规格的产品。
产品特点
· 测试频率高：DC-40GHz，可扩展到50GHz
· 使用方便：测试时不需要有部件的拆装过程
· 适合几乎所有的各类封装的元件：SMD、QFN（QFP）、SOT（SOP)、BGA、带引线蝴蝶翼等
应用领域
· 射频有源无源的S参数小批交付测试 · 射频有源无源的S参数精准测试
设备规格
| 主夹具配置 | ||||||
| 工作频段 | 同轴接口形式载台 | 组成 | 性能 | |||
| 必选件 | 可选件 | 驻波(直通件) | ||||
| DC-6GHz | SMA/f | 主体 | TRL校准套件 | 1.2 | ||
| DC-18GHz | SMA/f（2.92mm/f) | 主体 | TRL校准套件 | 1.25 | ||
| DC-40GHz | 2.92mm/f | 主体 | TRL校准套件 | 1.35 | ||
| TRL校准件配置 | ||||||
| 工作频段 | 负载 | 延时线 | 反射件 | 直通线 | ||
| Line1 | Line2 | Line3 | short | thru | ||
| DC-6GHz | 1 | 1 | 1 | - | 1 | 1 |
| DC-18GHz | 1 | 1 | 1 | 1 | 1 | 1 |
| DC-40GHz | 1 | 1 | 1 | 1 | 1 | 1 |
| 典型待测芯片说明 备注：首次购买需配置校准件 | ||||||
| 芯片功能 | 封装类型 | 最高工作频率 (GHz) | ||||
| 低噪放 | DFN、QFN、SIP、BGA、SOT、SOP、SMD | 43.5 | ||||
| 放大器 | 26.5 | |||||
| 滤波器 | 26.5 | |||||
| Bias-tee | 10 | |||||
| 收发芯片 | 26.5 | |||||
| 限幅器 | 8 | |||||
| 功分器 | 26.5 | |||||
| 射频前端模组 | 43.5 |
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