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7945 最大8吋芯片制程中芯片外观检查系统 正反双面同步检测|致茂电子Chroma (在产)

Chroma 7945制程中芯片外观检查系统为自动化的切割前/后晶粒检测设备。

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系统与解决方案

致茂 Chroma
7945 制程中芯片外观检查系统
最大8吋芯片 · 正反双面同步检测
产品简介
Chroma 7945制程中芯片外观检查系统为自动化的切割前/后晶粒检测设备。切割后晶粒可以同时间进行正反两面的晶粒外观检查,使用可替换组件设计,能够转换未切割芯片以及金属环或塑料子母环以配合不同应用。
对于化合物半导体芯片而言,在切割后产生的背面缺陷,例如剥落及崩边是非常严重的。因为缺陷无法于正面看见,使用者必须翻转芯片以及另外进行检测才能获得正反两面的位置分布图,在操作翻面过程中也可能会有晶粒翻转损失及合并数据错误的可能。采用同步检测正背面的优点为只需一次扫描,即可得到晶粒正反面结果,能大幅减少检测与合并档案时间。
产品功能与优势
主要特点
• 双面检测(切割后芯片)
• 异色缺陷检测
• 可选择不同倍率及检测项目以因应不同应用,例如VCSELs、PDs、LEDs、或离散组件(Discrete Devices)
• 支持多计算机检测以缩短处理时间
• 可共享自动进料机设计
• 最大支持8吋芯片 (10" Hoop Ring)
双面检测
色彩系统
异色检测问题是另一项化合物半导体的重点,因为膜厚不均所造成的颜色不均匀可能会造成检测误判或漏判。检测系统必须拥有待测物彩色信息让用户可以选择高对比度的色彩频道来建立检测项目,高对比度影像有助于提升检出率。
芯片分布图格式
Chroma 7945能够支持不同的芯片分布图格式,例如 csv、SEMI XML、SNIF、STIF以及KLARF。用户可以堆栈不同制程的分布图以分析缺陷的成因,或是结合前站测试数据,并更新分类图以进行下一站挑拣流程。
主要型号与技术规格
该系列共收录 1 个具体型号,以下为前 1 个(完整规格见详细指标页)。
• 7945 叙述 制程中芯片外观检查系统
资源下载
• 7945 详细指标见 7945 详细指标页。
• 官方 PDF(型录):7945-SC.pdf
注:以上内容与指标均取自致茂电子(Chroma)官网该产品详情页与官方产品资料,未标注口径的为厂家公布值。
致茂电子(Chroma ATE Inc.) · onetest 仪器资源库

 

 

致茂 Chroma
7945 详细指标
最大8吋芯片 · 正反双面同步检测
详细指标
以下规格取自致茂 Chroma 官网该产品详情页型号表,共 1 个具体型号。
7945
• 叙述:制程中芯片外观检查系统
资源下载
• 7945 产品介绍见 7945 产品介绍页。
• 官方 PDF(型录):7945-SC.pdf
注:以上内容与指标均取自致茂电子(Chroma)官网该产品详情页与官方产品资料,未标注口径的为厂家公布值。
致茂电子(Chroma ATE Inc.) · onetest 仪器资源库

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厂家联系方式(中国大陆)

中茂电子(深圳)有限公司(Chroma Electronics (Shenzhen) Co., Ltd.)

地址:广东省深圳市南山区登良路南油天安工业村4号厂房8楼

电话:+86-755-2664-4598

邮箱:info@chromaate.com

官网:www.chroma.com.cn

中国大陆服务据点

中茂电子(深圳)有限公司 北京分公司 电话:+86-10-5764-9600 / +86-10-5764-9601

致茂电子(东莞)有限公司 电话:+86-769-8663-9376

中茂电子(上海)有限公司 电话:+86-21-6495-9900

致茂电子(苏州)有限公司 电话:+86-512-6824-5425

致茂电子(厦门)有限公司 电话:+86-592-8262-055

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